[发明专利]一种制冷型红外探测器多工位测试系统及方法

权利要求书

1.一种制冷型红外探测器多工位测试系统，其特征在于，包括：载有黑体的位移台、与位移台平行设置的包括多个测试工位的载物台，每个测试工位安装一颗被测的制冷型红外探测器，每个测试工位还配置有接口板，接口板与对应被测的制冷型红外探测器的引脚相连；

还包括：直流电源、矩阵开关、偏压模块、时序模块、采集模块以及控制处理服务器；直流电源用于给被测的制冷型红外探测器的制冷机供电；矩阵开关在控制处理服务器的控制下选择测试工位；偏压模块与时序模块在控制处理服务器的控制下通过矩阵开关向当前被测的制冷型红外探测器提供偏压信号以及时序信号，驱动当前被测的制冷型红外探测器工作；被测的制冷型红外探测器的输出信号通过矩阵开关传输至采集模块，采集模块将采集到的数据传输至控制处理服务器；控制处理服务器控制载有黑体的位移台移动，黑体的辐射面中心正对被测的制冷型红外探测器的窗口中心。

2.根据权利要求1所述的一种制冷型红外探测器多工位测试系统，其特征在于，所述采集模块为模拟采集卡或是数字采集卡。

3.根据权利要求2所述的一种制冷型红外探测器多工位测试系统，其特征在于，当采集器为模拟采集卡时，所述接口板还包括：将被测的制冷型红外探测器的输出整体加上或减去某一个电平值Vcom，将被测的制冷型红外探测器的输出适配至模拟采集卡的小电压范围的档位进行采集。

4.一种制冷型红外探测器多工位的测试方法，基于权利要求1-3任意一项所述的系统进行测试，具体的：直流电源给所有被测的制冷型红外探测器的制冷机供电，等待制冷机到温后，通过矩阵开关选通被测的制冷型红外探测器，并提供偏压与时序信号给当前被测的制冷型红外探测器，移动黑体对准当前被测的制冷型红外探测器的窗口的中心，分别采集高温辐射和低温辐射下的被测的制冷型红外探测器输出，分析计算出当前被测的制冷型红外探测器的参数指标；所述矩阵开关在控制处理服务器的控制下一次选通一个被测的制冷型红外探测器。

5.根据权利要求4所述的一种制冷型红外探测器多工位的测试方法，其特征在于，当采用一台黑体时，还包括：开启黑体，并先将黑体温度设置到低温T1，并移动到当前被测的制冷型红外探测器所对应的位置，确保被测的制冷型红外探测器的窗口对准黑体中心，使用采集模块对被测的制冷型红外探测器的输出进行采集，然后将黑体温度设置到高温T2，再次使用采集模块对被测的制冷型红外探测器的输出进行采集。

6.根据权利要求4所述的一种制冷型红外探测器多工位的测试方法，其特征在于，采用两台黑体时，设置其中一台黑体为低温T1，设置另一台黑体为高温T2，先将低温T1的黑体移动到当前被测的制冷型红外探测器所对应的位置，确保被测的制冷型红外探测器的窗口对准黑体中心，使用采集模块对被测的制冷型红外探测器的输出进行采集，然后让高温T2的黑体移动到当前被测的制冷型红外探测器所对应的位置，确保被测的制冷型红外探测器的窗口对准黑体中心，再次使用采集模块对被测的制冷型红外探测器的输出进行采集。

7.根据权利要求5或6所述的一种制冷型红外探测器多工位的测试方法，其特征在于，还包括：自动寻找最佳偏压值的过程，具体为：采用噪声或NETD指标作为最佳偏压值的判断依据，选择某一路偏压作为调节对象Vadjust，如Gpol；

当选择噪声作为最佳偏压值的判断依据时，探测器对准低温黑体并正常工作后，首先设置Vadjust为典型值，采集计算出当前条件下噪声值，然后确认寻找范围和步长，上位机软件自动控制系统并计算出不同Vadjust值下对应的噪声情况，判定噪声最小值对应的Vadjust值为最佳偏压值；

当选择NETD作为最佳偏压值的判断依据时，首先设置Vadjust为典型值，移动高低温黑体或是控制单台黑体的升降温，采集计算出当前Vadjust对应的NETD的大小，然后确认寻找范围和步长，上位机软件自动控制系统并计算出不同Vadjust值下对应的NETD情况，判定NETD最小值对应的Vadjust值为最佳偏压值。