[发明专利]一种样本分析仪及其计数异常的检测方法

权利要求书

1.一种样本分析仪计数异常的检测方法，其特征在于，所述样本分析仪用于对样本的粒子进行计数，所述检测方法包括：

对所述粒子的计数信号进行分析处理，得到特征参数；

基于所述特征参数生成所述粒子的第一直方图，从所述第一直方图获取相关特征参数，所述相关特征参数包括所述第一直方图的前端预设通道内总粒子数的第一百分比和/或所述第一直方图的后端预设通道内总粒子数的第二百分比；

判断所述相关特征参数是否位于异常范围内；

若是，判断所述样本分析仪计数异常；

在所述对所述粒子的计数信号进行分析处理，得到特征参数的步骤之后，所述检测方法还包括：

根据所述特征参数获取在单位时间段内的粒子数，得到粒子数序列；

分析所述粒子数序列的有效性，得到有效的粒子数序列；

获取所述有效的粒子数序列的第一参数，其中获取所述有效的粒子数序列的计数时间在所述粒子的计数时间的占比值，所述第一参数包括所述占比值、第一平均值或第一标准差；

判断所述第一参数是否位于异常范围内；

若是，则判断所述样本分析仪计数异常。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

所述判断所述相关特征参数是否位于异常范围内的步骤包括：

判断所述第一百分比是否大于第一预设阈值，所述第一预设阈值大于0且小于1。

3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，

所述判断所述相关特征参数是否位于异常范围内的步骤包括：

判断所述第二百分比是否大于第二预设阈值，所述第二预设阈值大于0且小于1。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在得到有效的粒子数序列的步骤之后，所述检测方法还包括：

根据所述有效的粒子数序列对应的特征参数，生成对应的第二直方图；

获取所述第二直方图的第二参数；

判断所述第一参数或/和所述第二参数是否位于异常范围内；

若是，则判断所述样本分析仪计数异常。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，

所述判断所述第一参数或/和所述第二参数是否位于异常范围内的步骤包括：

判断所述占比值是否小于第三预设阈值，所述第三预设阈值大于或等于0且小于或等于1；

或者，判断所述第一标准差是否大于第四预设阈值，所述第四预设阈值为大于1的常数。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述第二直方图的第二参数的步骤包括：

获取所述第二直方图的前端预设通道内总粒子数的第三百分比，和所述第二直方图的后端预设通道内总粒子数的第四百分比；

所述第二参数包括所述第三百分比或/和所述第四百分比；

所述判断所述第一参数或/和所述第二参数是否位于异常范围内的步骤包括：

判断所述第三百分比是否大于第一预设阈值；

或/和，判断所述第四百分比是否大于第二预设阈值。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述第一参数或/和所述第二参数是否位于异常范围内的步骤包括：

判断所述第一标准差是否大于第五预设阈值，且所述第三百分比是否大于第六预设阈值；所述第五预设阈值为大于1的常数，且小于所述第四预设阈值，所述第六预设阈值小于所述第一预设阈值；

或者，判断所述第一标准差是否大于第七预设阈值，且所述第四百分比是否大于第八预设阈值；所述第七预设阈值为大于1的常数，且小于所述第五预设阈值，所述第八预设阈值小于所述第二预设阈值。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述第四预设阈值为所述第一平均值的开根乘以第一常数，所述第五预设阈值为所述第一平均值的开根乘以第二常数，所述第七预设阈值为所述第一平均值的开根乘以第三常数，所述第一常数大于所述第二常数，所述第二常数大于所述第三常数，且所述第三常数大于1。