[发明专利]用于验证被测试模块的方法以及验证系统

说明书

提供一种用于验证被测试模块的方法以及验证系统。其中验证系统包括：处理器模型，所述处理器模型被配置成：在由第一编程语言实现的测试用例的运行过程中，经由接口函数调用由第二编程语言实现的操作函数，以实现所述测试用例涉及的处理器操作，获取基于所述处理器操作得到的测试输入；以及被测试模块，所述被测试模块用于响应于所述测试输入而生成测试输出。利用本公开提供的验证方法和系统，可以方便地将第一编程语言实现的测试用例用于第二编程语言描述的被测试模块以生成测试输出，从而在对测试用例进行修改迭代时，能够方便地实现测试用例的编译和复用。

技术领域

本公开涉及电子系统的仿真验证，特别涉及被测试模块的验证方法、验证系统、电子设备和存储介质。

背景技术

在对电子系统进行开发时，需要对设计的电子系统中的模块进行验证以正确实现模块要完成的功能。

在此部分中描述的方法不一定是之前已经设想到或采用的方法。除非另有指明，否则不应假定此部分中描述的任何方法仅因其包括在此部分中就被认为是现有技术。类似地，除非另有指明，否则此部分中提及的问题不应认为在任何现有技术中已被公认。

发明内容

根据本公开的一个方面，提供了一种验证系统，包括：处理器模型，所述处理器模型被配置成：在由第一编程语言实现的测试用例的运行过程中，经由接口函数调用由第二编程语言实现的操作函数，以实现所述测试用例涉及的处理器操作，获取基于所述处理器操作得到的测试输入；以及被测试模块，所述被测试模块用于响应于所述测试输入而生成测试输出。

根据本公开的另一方面，还提供了一种用于验证被测试模块的方法，包括：在由第一编程语言实现的测试用例的运行过程中，经由接口函数调用由第二编程语言实现的操作函数，以实现所述测试用例涉及的处理器操作；基于所述处理器操作生成用于验证所述被测试模块的测试输入；以及获取所述被测试模块响应于所述测试输入而生成的测试输出。

根据本公开的另一方面，还提供了一种电子设备，包括：处理器；以及存储程序的存储器，所述程序包括指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器执行如前所述的方法。

根据本公开的又一方面，还提供了一种存储程序的非暂态计算机可读存储介质，所述程序包括指令，所述指令在由电子设备的处理器执行时，致使所述电子设备执行如前所述的方法。

根据本公开的又一方面，还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现如前所述的方法。

利用本公开提供的验证方法和系统，可以方便地将第一编程语言实现的测试用例用于第二编程语言描述的被测试模块以生成测试输出，从而在对测试用例进行修改迭代时，能够方便地实现测试用例的编译和复用。

附图说明

附图示例性地示出了实施例并且构成说明书的一部分，与说明书的文字描述一起用于讲解实施例的示例性实施方式。所示出的实施例仅出于例示的目的，并不限制权利要求的范围。在所有附图中，相同的附图标记指代类似但不一定相同的要素。

图1示出了根据本公开的实施例的验证系统的一种示例性的架构图；

图2示出了根据本公开的实施例的验证系统的另一种示例性的架构图；

图3示出了根据本公开的实施例的用于验证被测试模块的方法的示例性流程图；

图4示出了根据本公开的用于验证被测试模块的方法的另一种示例性流程图；

图5是示出根据本公开的示例性实施例的电子设备的示例的框图。

具体实施方式