[发明专利]光检测设备在审

专利信息
申请号: 202110779535.3 申请日: 2015-12-07
公开(公告)号: CN113658968A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 町田贵志;山下和芳 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L23/522;H01L27/14;H04N5/232;H04N5/355;H04N5/369;H04N5/374;H04N5/378
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 卫李贤;曹正建
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 设备
【权利要求书】:

1.一种光检测设备,包括:

光电转换区;

传输晶体管,所述传输晶体管被配置为将来自所述光电转换区的电荷传输到电荷-电压转换部;

开关晶体管,所述开关晶体管配置为选择性地将电容器的电容添加到所述电荷-电压转换部的电容;以及

配线层,所述配线层包括:

第一电极,所述第一电极连接到所述开关晶体管;和

第二电极,所述第二电极与所述第一电极相对,所述第二电极包括第一部分和第二部分,

其中,所述电容器包括所述第一电极和所述第二电极,且

其中,所述第二电极的所述第一部分和所述第一电极之间的第一距离与所述第二电极的所述第二部分和所述第一电极之间的第二距离不同。

2.根据权利要求1所述的光检测设备,其中,所述第一电极和所述第二电极位于不同的层中。

3.根据权利要求1所述的光检测设备,其中,所述第一距离大于所述第二距离。

4.根据权利要求2所述的光检测设备,其中,所述第一电极在垂直方向上设置在所述第二电极上方。

5.根据权利要求1所述的光检测设备,其中,连接到所述电荷-电压转换部的配线的触头区位于所述开关晶体管和复位晶体管之间。

6.根据权利要求1所述的光检测设备,其中,在平面图中,所述第一电极包括具有长方形的部分。

7.根据权利要求1所述的光检测设备,其中,所述第二电极连接到预定电势。

8.一种光检测设备,包括:

光电转换区;

传输晶体管,所述传输晶体管被配置为将来自所述光电转换区的电荷传输到电荷-电压转换部;

开关晶体管,所述开关晶体管配置为选择性地将电容器的电容添加到所述电荷-电压转换部的电容;

放大晶体管,所述放大晶体管配置为输出像素信号;以及

配线层,所述配线层包括:

第一电极,所述第一电极连接到所述开关晶体管;

第二电极,所述第二电极与所述第一电极相对;和

第三电极,所述第三电极连接到所述传输晶体管,

其中,所述电容器包括所述第一电极和所述第二电极,且

其中,所述第一电极与所述第三电极不同。

9.根据权利要求8所述的光检测设备,其中,连接到所述电荷-电压转换部的配线的触头区位于所述开关晶体管和复位晶体管之间。

10.根据权利要求8所述的光检测设备,其还包括选择晶体管。

11.根据权利要求9所述的光检测设备,其中,所述开关晶体管、所述电荷-电压转换部、所述复位晶体管和所述放大晶体管全都共用相同的阱区。

12.根据权利要求9所述的光检测设备,其中,所述开关晶体管、连接到所述电荷-电压转换部的所述配线的所述触头区、所述复位晶体管和所述放大晶体管按照该顺序布置。

13.根据权利要求8所述的光检测设备,其中,所述第一电极的一部分在平面图中具有长方形。

14.根据权利要求8所述的光检测设备,其中,所述第二电极连接到预定电势。

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