[发明专利]一种微动开关寿命测试装置及其控制系统

权利要求书

1.一种微动开关寿命测试装置，其特征在于：包括圆形固定盘(5)，圆形固定盘(5)的中心处固定有直流电机，圆形固定盘(5)上靠近边缘处均匀设有若干微动开关，直流电机的上方固定有拨动杆(2)，直流电机包括电机主体(3)和电机转轴(4)，拨动杆(2)一端固定在电机转轴(4)上，拨动杆(2)另一端为自由端顶在微动开关内侧，拨动杆(2)在直流电机的带动下可连续不断拨动均匀分布的微动开关，实现微动开关的闭合与断开操作。

2.如权利要求1所述的一种微动开关寿命测试装置，其特征在于：所述圆形固定盘(5)上中心处设有圆形凹槽(11)，圆形凹槽(11)以圆形固定盘(5)的中心为圆心设置；

所述电机主体(3)通过三个平头螺丝固定圆形凹槽(11)里，圆形凹槽(11)的大小与电机主体(3)大小相适应，平头螺丝顶端平面不超过圆形固定盘平面，电机转轴(4)与拨动杆(2)连接，拨动杆(2)与电机转轴(4)以相同角速度匀速转动。

3.如权利要求1所述的一种微动开关寿命测试装置，其特征在于：所述圆形固定盘(5)上靠近边缘处均匀设有若干方形凹槽(10)，所有方形凹槽(10)沿位于以圆形固定盘(5)的中心为圆心的一圆弧排列，微动开关固定在方形凹槽(10)内，方形凹槽(10)的数量和大小与微动开关的数量和大小相适应。

4.如权利要求3所述的一种微动开关寿命测试装置，其特征在于：所述微动开关包括微动开关本体(1)，微动开关本体(1)上方设有弹簧爪(6)，弹簧爪(6)的一端通过弹簧爪固定螺丝(7)固定在圆形固定盘(5)上，弹簧爪(6)的另一端压紧在微动开关本体(1)的上表面上，弹簧爪(6)的最高处距离微动开关上表面的高度为微动开关厚度的二分之一。

5.如权利要求3所述的一种微动开关寿命测试装置，其特征在于：所述微动开关本体(1)朝向圆形固定盘(5)中心的一侧安装有微动开关簧片(8)，微动开关簧片(8)一端固定在微动开关本体(1)上，微动开关簧片(8)另一端为自由端，拨动杆(2)的自由端顶在微动开关簧片(8)上，微动开关簧片(8)与微动开关本体(1)之间安装有微动开关按键(9)。

6.一种如权利要求1-5任意一权利要求所述的一种微动开关寿命测试装置的控制系统，其特征在于：包括CPU及存储模块、声光报警模块、电源模块和电机驱动及开关动作检测模块，声光报警模块和电机驱动及开关动作检测模块连接CPU及存储模块，电源模块为各模块供电。

7.如权利要求6所述的一种微动开关寿命测试装置的控制系统，其特征在于：所述CPU及存储模块包括CPU芯片U1，CPU芯片U1作为主控制芯片；

所述CPU芯片U1的1脚和100脚连接有电容C2一端，并接+3.3V，电容C2另一端接地，CPU芯片U1的8脚连接有晶振Y1一端和电容C3一端，CPU芯片U1的9脚连接有晶振Y1另一端和电容C4一端，电容C3另一端和电容C4另一端接地；

所述CPU芯片U1的23脚连接有芯片U2的7脚和电阻R7一端，CPU芯片U1的24脚连接有芯片U2的6脚和电阻R8一端，CPU芯片U1的25脚连接有芯片U2的5脚和电阻R9一端，电阻R7另一端、电阻R8另一端和电阻R9另一端接+3.3V，芯片U2的8脚连接有电容C5一端，并接+3.3V，电容C5另一端接地，芯片U2为存储芯片。

8.如权利要求6所述的一种微动开关寿命测试装置的控制系统，其特征在于：所述声光报警模块包括三极管Q6，三极管Q6的基极连接有电阻R4一端，电阻R4另一端连接有CPU芯片U1的67脚，三极管Q6的发射极接地，三极管Q6的集电极连接二极管D4一端和报警器B1一端，二极管D4另一端和报警器B1另一端均连接有电阻R3一端，电阻R3另一端接+5V；

所述声光报警模块还包括电阻R5和电阻R6，电阻R5一端连接有CPU芯片U1的58脚，电阻R5另一端连接有发光二极管LED1一端，发光二极管LED1另一端接地，电阻R6一端连接有CPU芯片U1的53脚，电阻R6另一端连接有发光二极管LED2一端，发光二极管LED2另一端接地。