[发明专利]多路小电阻测试电路和系统在审

专利信息
申请号: 202110783055.4 申请日: 2021-07-12
公开(公告)号: CN113376438A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 楚文超;毛战升 申请(专利权)人: 上海金东唐科技有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 董艳芳
地址: 200082 上海市杨浦区长阳路*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 多路小 电阻 测试 电路 系统
【权利要求书】:

1.一种多路小电阻测试电路,其特征在于,包括:多路切换开关、电压测试电路和恒流源电路,所述电压测试电路与待测小电阻相并联,所述待测小电阻和所述恒流源电路相串联,所述多路切换开关包括X端和Y端;

所述待测小电阻从所述X端接入,所述电压测试电路和所述恒流源电路分别从所述Y端接入;

所述恒流源电路用于为所述待测小电阻提供电流,所述电压测试电路用于测量所述待测小电阻两端的电压,并基于欧姆定律得到所述待测小电阻的阻值。

2.根据权利要求1所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述X端包括16个X点位,所述Y端包括16个Y点位,每个所述待测小电阻通过相邻的两个X点位接入,所述电压测试电路通过Y2点位和Y3点位接入,所述恒流源电路通过Y4点位和Y5点位接入。

3.根据权利要求2所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述X点位包括第一X点位和第二X点位,每个所述待测小电阻通过所述第一X点位和所述第二X点位接入,所述第一X点位分别与所述Y2点位和所述Y4点位相连接,所述第二X点位分别与所述Y3点位和所述Y5点位相连接,其中,所述第一X点位和所述第二X点位相邻。

4.根据权利要求1所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述电压测试电路包括用于量程选择的开关K8和开关K9;在所述待测小电阻需要调大测试量程的情况下,所述开关K8闭合;在所述待测小电阻需要调小测试量程的情况下,所述开关K9闭合。

5.根据权利要求4所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述电压测试电路还包括分别与所述开关K8或所述开关K9对应的电阻,在所述开关K8或所述开关K9闭合的情况下,与所述开关K8或所述开关K9对应的电阻接入,所述电压测试电路对所述待测小电阻进行相应量程范围的测试。

6.根据权利要求1所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,还包括毫欧电阻测试模块,与所述电压测试电路相连接,用于对所述待测小电阻进行高精度测试。

7.根据权利要求2所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述多路切换开关的数量可基于所述待测小电阻对应的测试点位进行扩展。

8.根据权利要求1所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述多路切换开关为矩阵开关。

9.根据权利要求1所述的多路小电阻测试电路,其特征在于,所述待测小电阻的阻值范围为0-20Ω。

10.一种多路小电阻测试系统,其特征在于,包括如权利要求1-9中任一项所述的多路小电阻测试电路,还包括与所述多路小电阻测试电路相连接的上位机。

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