[发明专利]USB接口及电子设备在审
申请号: | 202110783077.0 | 申请日: | 2021-07-12 |
公开(公告)号: | CN113517591A | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 林振业;朱中武 | 申请(专利权)人: | 维沃移动通信有限公司 |
主分类号: | H01R13/405 | 分类号: | H01R13/405;H01R13/502;H01R13/52 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 523846 *** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | usb 接口 电子设备 | ||
本申请公开了一种USB接口及电子设备,USB接口包括端子模组、第一壳体、第二壳体和粘接密封件;端子模组穿设于第一壳体,第一壳体的朝向端子模组的端子引脚的一端与端子模组之间具有密封腔,粘接密封件填充设于密封腔中,粘接密封件密封连接第一壳体和端子模组;第二壳体盖设于端子模组的端子引脚的一端,第二壳体与端子模组之间具有密封通道,密封通道的一端与密封腔连通,第二壳体的远离密封腔的一端形成有避让开口,密封通道通过避让开口与外界连通,避让开口的避让方向远离端子引脚的设置方向;流体状的密封粘结剂可通过避让开口进入密封通道,并经由密封通道流向密封腔,以在密封腔内形成粘接密封件。这样可以提升USB接口的密封性能。
技术领域
本申请属于电子产品技术领域,具体涉及一种USB接口及电子设备。
背景技术
随着技术的发展,手机等电子设备的应用场景越来越多,对电子设备的综合性能的要求也越来越高,尤其是电子设备的防水性能。而USB(通用串行总线,Universal SerialBus)接口作为电子设备标配的外接接口,其防水性能好差决定了电子设备的防水性能。
目前,一般是通过胶水密封的方式,来提高USB接口的防水性能。比如,在USB接口为C类USB接口的情况下,即USB接口为Type-C接口的情况下,Type-C接口在表面贴装技术和回路焊接联能见到电路板上的过程中,Type-C接口上的密封胶水会存在一定比例的密封失效的问题,进而影响Type-C接口的密封性能。
可见,相关技术中的USB接口存在密封性能差的问题。
发明内容
本申请旨在提供一种USB接口及电子设备,能够解决相关技术中的USB接口存在的密封性能差的问题。
为了解决上述技术问题,本申请是这样实现的:
第一方面,本申请实施例提出了一种USB接口,包括端子模组、第一壳体、第二壳体和粘接密封件;
所述端子模组穿设于所述第一壳体,且所述第一壳体的朝向所述端子模组的端子引脚的一端与所述端子模组之间具有密封腔,所述粘接密封件填充设于所述密封腔中,且所述粘接密封件密封连接所述第一壳体和所述端子模组;
所述第二壳体盖设于所述端子模组的所述端子引脚的一端,且所述第二壳体与所述端子模组之间具有密封通道,所述密封通道的一端与所述密封腔连通,所述第二壳体的远离所述密封腔的一端形成有避让开口,所述密封通道通过所述避让开口与外界连通,且所述避让开口的避让方向远离所述端子引脚的设置方向;
其中,流体状的密封粘结剂可通过所述避让开口进入所述密封通道,并经由所述密封通道流向所述密封腔,以在所述密封腔内形成所述粘接密封件。
第二方面,本申请实施例提出了一种电子设备,包括第一方面所述USB接口。
在本申请的实施例中,通过在第二壳体上设置避让开口,这样可以通过避让开口向密封通道内注射或填充流体状的密封粘接剂,并使流体状的密封粘接剂可以经由密封通道流向密封腔,以在密封腔内形成粘接密封件,进而实现第一壳体和端子模组的密封连接,提升USB接口的防水防尘性能及密封性能。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1是本申请实施例提供的USB接口的结构示意图之一;
图2是本申请实施例提供的USB接口的结构示意图之二;
图3是本申请实施例提供的USB接口的爆炸示意图;
图4是本申请实施例提供的USB接口的结构示意图之三;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于维沃移动通信有限公司,未经维沃移动通信有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110783077.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于极限环境光源分析采集的设备
- 下一篇:用于口内扫描的历史扫描参考