[发明专利]超级电容模组自动测试系统与方法

权利要求书

1.一种超级电容模组自动测试系统，其特征在于，包括：

路径管理模块、PLC控制器、电压传感器、电流传感器、信号灯和若干超级电容单体；

所述电压传感器与超级电容单体一一对应，所述电压传感器与其对应的超级电容单体电连接；

所述电流传感器与超级电容单体一一对应，所述电流传感器与其对应的超级电容单体电连接；

所述信号灯与PLC控制器电连接，所述信号灯用于在所述PLC控制器的控制下来表示超级电容单体测试是否合格；

所述PLC控制器与路径管理模块电连接，所述路径管理模块用于在PLC控制器的控制下来对各个超级电容单体进行充放电以及将各个超级电容单体的信息传送给所述PLC控制器；

所述电流传感器与电压传感器均与路径管理模块电连接。

2.根据权利要求1所述的超级电容模组自动测试系统，其特征在于，所述电压传感器用于采集其对应的超级电容单体的电压值并传送至路径管理模块，所述电流传感器用于采集其对应的超级电容单体的充放电电流值并传送至路径管理模块。

3.根据权利要求1所述的超级电容模组自动测试系统，其特征在于，所述路径管理模块包括与PLC控制器控制连接的MCU芯片；

断路器一与超级电容单体一一对应，所述断路器一串联在其对应的超级电容单体和充电电源之间，所述断路器一与MCU芯片电连接；

断路器二与超级电容单体一一对应，所述断路器二串联在其对应的超级电容单体和负载之间，所述断路器二与MCU芯片电连接。所述MCU芯片用于控制断路器一的开合和用于控制断路器二的开合，以此达成对对应的超级电容单体的充放电。

4.根据权利要求1所述的超级电容模组自动测试系统，其特征在于，所述信号灯包括红色信号灯与绿色信号灯。红色信号灯亮就表示其对应的超级电容单体测试不合格，绿色信号灯亮就表示其对应的超级电容单体测试合格。

5.根据权利要求1所述的超级电容模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU芯片中保存有预先存放的各个超级电容单体的电容容量值。

6.一种超级电容模组自动测试系统的方法，其特征在于，包括如下流程：

步骤1：在需要充电电源对所述超级电容单体进行充电时，所述PLC控制器就对MCU芯片传递充电指令；

步骤2：所述MCU芯片就控制断路器一闭合让充电电源对所述超级电容单体进行充电；

步骤3：所述电压传感器实时的将对应的超级电容单体的实时电压值传送到所述MCU芯片中，所述电流传感器实时的将对应的超级电容单体的充电电流值传送到所述MCU芯片中；

步骤4：所述MCU芯片将超级电容单体的实时电压值、充电电流值与超级电容单体的电容容量值转发至所述PLC控制器中，所述PLC控制器接收到首批超级电容单体的实时电压值、充电电流值与超级电容单体的电容容量值时就启动计时器一计时，计时的时间作为充电时长；

步骤5：所述PLC控制器接收到超级电容单体的实时电压值、充电电流值与超级电容单体的电容容量值后，就结合充电时长判断超级电容单体是否符合标准测试要求；

步骤6：如果符合标准测试要求，所述PLC控制器就控制对应的绿色信号灯点亮，如果不符合标准测试要求，所述PLC控制器就控制对应的红色信号灯点亮。

7.根据权利要求6所述的超级电容模组自动测试系统的方法，其特征在于，所述超级电容模组自动测试系统的方法，还包括如下流程：

步骤1-1：在需要充电电源对所述超级电容单体进行放电时，所述PLC控制器就对MCU芯片传递放电指令；

步骤1-2：所述MCU芯片就控制断路器二闭合让所述超级电容单体进行放电；

步骤1-3：所述电压传感器实时的将对应的超级电容单体的实时电压值传送到所述MCU芯片中，所述电流传感器实时的将对应的超级电容单体的放电电流值传送到所述MCU芯片中；

步骤1-4：所述MCU芯片将超级电容单体的实时电压值、充电电流值与超级电容单体的电容容量值转发至所述PLC控制器中，所述PLC控制器接收到首批超级电容单体的实时电压值、放电电流值与超级电容单体的电容容量值时就启动计时器二计时，计时的时间作为放电时长；

步骤1-5：所述PLC控制器接收到超级电容单体的实时电压值、放电电流值与超级电容单体的电容容量值后，就结合放电时长判断超级电容单体是否符合标准测试要求；

步骤1-6：如果符合标准测试要求，所述PLC控制器就控制对应的绿色信号灯点亮，如果不符合标准测试要求，所述PLC控制器就控制对应的红色信号灯点亮。