[发明专利]一种用于热电离同位素质谱锶和铅检测用点样装置

权利要求书

1.一种用于热电离同位素质谱锶和铅检测用点样装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)顶部固定连接有加工台(2)，所述加工台(2)顶部固定连接有固定竖板(3)，所述固定竖板(3)的数量设置有两个，两个所述固定竖板(3)关于底座(1)中轴线对称设置，两个所述固定竖板(3)之间固定连接有连接板(4)，所述连接板(4)外壁活动套接有定位器(6)，所述连接板(4)内壁一侧贯穿有定位槽(5)，所述定位槽(5)与定位器(6)滑动连接，所述固定竖板(3)外壁一侧固定连接有控制器(7)，所述控制器(7)与定位器(6)之间设置有连接线路(8)，所述控制器(7)通过连接线路(8)与定位器(6)电性连接，所述定位器(6)外壁一侧固定连接有电动推杆(9)，所述电动推杆(9)输出端设置有控制板(10)，所述控制板(10)底部固定连接有取样头(11)，所述取样头(11)的数量设置有多个，每相邻两个所述取样头(11)之间的距离相等，所述取样头(11)与加工台(2)之间设置有点样操作机构(12)，所述点样操作机构(12)包括第一点样组件(13)和第二点样组件(14)。

2.根据权利要求1所述的一种用于热电离同位素质谱锶和铅检测用点样装置，其特征在于：所述第一点样组件(13)和第二点样组件(14)均包括底板(15)，所述底板(15)顶部两侧均固定连接有连接挡板(16)，所述连接挡板(16)外壁固定连接有连接块(17)，所述连接块(17)的数量设置有两个，两个所述连接块(17)关于连接挡板(16)中轴线对称设置，所述连接挡板(16)内部螺纹插接有连接丝杆(18)，所述连接丝杆(18)贯穿加工台(2)延伸至内部，所述连接挡板(16)内部中轴线处贯穿有第一滑槽(19)，所述第一滑槽(19)内部滑动连接有控制滑板(20)，所述控制滑板(20)的数量设置有两个，两个所述控制滑板(20)关于第一滑槽(19)中轴线对称设置，所述控制滑板(20)贯穿第一滑槽(19)延伸至两侧，所述控制滑板(20)外壁一侧固定连接有手柄板，所述手柄板内部插接有固定插杆(21)，所述固定插杆(21)贯穿手柄板延伸至连接挡板(16)内部，所述控制滑板(20)外壁另一侧固定连接有支撑杆(22)。

3.根据权利要求2所述的一种用于热电离同位素质谱锶和铅检测用点样装置，其特征在于：所述第一点样组件(13)中两个所述支撑杆(22)之间固定连接有置物架(23)，所述置物架(23)内部贯穿有定位孔(24)，所述定位孔(24)的数量设置有多个，每相邻两个所述定位孔(24)之间的距离相等，所述定位孔(24)内部插接有取样管(25)。

4.根据权利要求2所述的一种用于热电离同位素质谱锶和铅检测用点样装置，其特征在于：所述第二点样组件(14)中两个所述支撑杆(22)之间固定连接有支撑板(26)，所述支撑板(26)内部开设有置物槽(27)，所述置物槽(27)的数量设置有多个，所述置物槽(27)内壁之间贯穿有控制丝杆(28)，所述控制丝杆(28)与置物槽(27)连接处设置有第一轴承，所述控制丝杆(28)通过第一轴承与置物槽(27)转动连接，所述控制丝杆(28)外壁螺纹套接有移动套(29)，所述移动套(29)的数量设置有两个，两个所述移动套(29)关于控制丝杆(28)中轴线对称设置，多个所述控制丝杆(28)之间固定连接，所述控制丝杆(28)贯穿支撑板(26)延伸至外壁一侧。

5.根据权利要求4所述的一种用于热电离同位素质谱锶和铅检测用点样装置，其特征在于：所述支撑板(26)顶部贯穿有第二滑槽(30)，所述移动套(29)顶部固定连接有定位滑板(31)，所述定位滑板(31)贯穿第二滑槽(30)延伸至顶部，所述第二滑槽(30)与定位滑板(31)滑动连接，所述定位滑板(31)顶部一侧固定连接有控制夹板(32)，所述控制夹板(32)截面形状设为C形，两个所述控制夹板(32)之间设置有薄层板(33)。