[发明专利]用于探测器批量测试的测试治具、测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 202110784959.9 申请日: 2021-07-12
公开(公告)号: CN113576502A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 袁钰函;唐望升;张楠 申请(专利权)人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/03
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 201201 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 探测器 批量 测试 装置 方法
【说明书】:

发明提供了一种用于探测器批量测试的测试治具、测试装置及测试方法,该测试治具的匣体包括从顶部至底部依次设置的钨片放置槽及探测器放置槽,探测器放置槽在竖直方向上可以同时套设多个,以兼容多种不同规格尺寸的探测器。探测器放置槽只需与探测器的四周边缘处接触并提供支撑力,避免了与探测器不规则的背部壳体接触造成的放置不平的问题。钨片放置槽便于测试人员规范地放置钨片,避免因偏移角不合适造成的反复调整和钨片调整后遗留伪影对测结果的干扰等问题。该测试装置可以同时对多个探测器进行批量测试,极大的提高了测试效率,此外,还能够将各个探测器的测试结果自动进行汇总,方便将测试结果导入到MES系统进行线上管理和产品追溯。

技术领域

本发明涉及探测器领域,特别是涉及一种用于探测器批量测试的测试治具、测试装置及测试方法。

背景技术

对于小尺寸X射线探测器(例如用于口腔内拍摄牙齿的口内探测器),其受光面通常为平面,而背面壳体则为不规则的曲面形状,普通的摆放无法保证探测器放平,在进行出厂检验(OQC)时,难以保证性能测试的准确性和一致性。尤其对于MTF的测试有更高的精度要求(MTF即调制传递函数,定义为输出图像对比度或调制度与输入图像对比度或调制度之间的比值,是探测器空间分辨率与对比灵敏度的综合反映)。目前常用的测试MTF的方法为刀刃法,测试时需要放置钨片于探测器表面,且钨片摆放时要与探测器呈一定的角度,由于探测器的受光面很小,钨片角度很难准确把控,多次反复放置钨片会造成不必要的残影等,影响探测器MTF测试的准确性。其次,现有的测试流程中,往往是逐个地对探测器进行测试,且需要人工完成整理数据的步骤,测试效率极低,远远达不到出货量的需求。最后,现有流程中,往往将测试报告打印成纸质版进行入库操作,不便于大批量数据的管理和产品的追溯。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种用于探测器批量测试的测试治具、测试装置及测试方法,用于解决现有技术中探测器摆放困难、测试效率低、测试数据管理困难等问题。

为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种用于探测器批量测试的测试治具,所述测试治具包括N≥2个匣体,所述匣体包括从顶部至底部依次设置的钨片放置槽及探测器放置槽,所述钨片放置槽与所述探测器放置槽相贯通,且所述钨片放置槽与所述探测器放置槽在水平方向上具有偏移角,位于所述钨片放置槽中的钨片与位于所述探测器放置槽中的所述探测器的表面相接触,且所述钨片覆盖部分所述探测器的表面,所述钨片与所述探测器在水平方向上具有所述偏移角。

可选地,所述探测器放置槽的边缘设置有与所述探测器放置槽相贯通的顶片凹槽,以放置顶片。

可选地,所述顶片凹槽内部设有螺孔,所述顶片设置有与所述螺孔相匹配的腰孔。

可选地,所述钨片放置槽和/或所述顶片凹槽的边缘设置有缺口,所述匣体还包括与所述探测器放置槽连通的辅助凹槽。

可选地,所述匣体的数量N的取值为N≥2,所述偏移角的范围为1.5°-3°。

可选地,在竖直方向上具有2个以上相套设的所述探测器放置槽。

可选地,所述匣体具有不同形貌,所述钨片的纯度大于90%,厚度为0.5mm-3mm,所述钨片的侧壁在水平面的投影尺寸小于所述探测器像素尺寸的25%。

本发明还提供一种用于探测器批量测试的测试装置,所述测试装置包括采图控制模块、数据处理模块及所述测试治具;所述采图控制模块用于获取所述探测器的OQC图像,所述OQC图像包括MTF图像;所述数据处理模块用于对所述OQC图像进行处理以得到测试结果,所述测试结果包括MTF。

本发明还提供一种用于探测器批量测试的测试方法,所述测试方法包括如下步骤:

S1:提供所述测试装置,将多台所述探测器放入所述测试治具中;

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