[发明专利]多核处理器调试方法、处理器、电子设备和存储介质

说明书

本申请实施例提供了一种多核处理器调试方法、处理器、电子设备和存储介质，所述方法应用于处理器，所述处理器包括多个处理器内核，每个处理器内核中设置有状态寄存器，所述状态寄存器用于存储表征处理器内核是否需要退出调试模式的状态值，所述方法包括：各个所述处理器内核根据上位机发送的调试信息进行处理器调试；针对每个处理器内核，在完成处理器调试后，根据对应的状态值判断是否满足退出调试模式的条件；满足退出调试模式的条件的处理器内核执行退出调试模式对应的程序。多个处理器内核能够同时根据自身的状态值判定是否满足退出调试模式的条件，在满足条件时即可退出调试模式，从而可以实现多个处理器内核同时退出调试模式，便于软件人员调试，提高了调试效率。

技术领域

本申请涉及处理器调试技术，具体地，涉及一种多核处理器调试方法、处理器、电子设备和存储介质。

背景技术

目前，主流的处理器调试方法大致可以分为两类：一类是Execution BasedTesting(动态调试)，这种方式会利用处理器的流水线来执行特殊的调试指令，从而完成处理器的调试；另一类是静态调试，在调试的时候，处理器的流水线是处于停顿状态的，需要通过其他方式(例如新增一组专用于调试的总线)进行调试。两种调试方式都很常用，其中动态调试可以在不改变处理器的数据通路的前提下，充分利用处理器已有的流水线完成任意地址的访存。

但是，动态调试的方式在退出调试模式时，多个处理器内核不能同时自动的退出调试状态，而是需要上位机每次选中一个内核并发送一系列命令控制这个内核退出调试状态，这样多个内核退出调试状态的时间点会间隔比较长，不利于软件人员调试，导致调试效率较低。

发明内容

本申请实施例中提供了一种多核处理器调试方法、处理器、电子设备和存储介质，用于解决目前在退出调试模式时，多个处理器内核不能同时自动的退出调试状态，不利于软件人员调试，导致调试效率较低的问题。

根据本申请实施例的第一个方面，提供了一种多核处理器调试方法，应用于处理器，所述处理器包括多个处理器内核，每个处理器内核中设置有状态寄存器，所述状态寄存器用于存储表征处理器内核是否需要退出调试模式的状态值，所述方法包括：

各个所述处理器内核根据上位机发送的调试信息进行处理器调试；

针对每个处理器内核，在完成处理器调试后，根据所述状态存储器中的状态值判断是否满足退出调试模式的条件；

满足退出调试模式的条件的处理器内核执行退出调试模式对应的程序。

根据本申请实施例的第二个方面，提供了一种处理器，所述处理器包括多个处理器内核，每个处理器内核中设置有状态寄存器，所述状态寄存器用于存储表征处理器内核是否需要退出调试模式的状态值；

各个所述处理器内核用于根据上位机发送的调试信息进行处理器调试；

针对每个处理器内核，在完成处理器调试后，还用于根据对应的状态值各自判断自身是否满足退出调试模式的条件；

满足退出调试模式的条件的处理器内核还用于执行退出调试模式对应的程序。

根据本申请实施例的第三个方面，提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过所述总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行多核处理器调试方法。

根据本申请实施例的第四个方面，提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行多核处理器调试方法。