[发明专利]一种单元测试方法及装置、存储介质在审

专利信息
申请号: 202110790597.4 申请日: 2021-07-13
公开(公告)号: CN113342696A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 史金昊;周德辉 申请(专利权)人: 北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 钟舒婷;张颖玲
地址: 100176 北京市大兴区经济技*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 单元测试 方法 装置 存储 介质
【说明书】:

发明实施例公开了一种单元测试方法及装置、存储介质,装置包括:单元测试加载模块,用于根据定义的Spark单元测试,注册计算环境构建模块的接口实现并加载到计算环境构建模块,以及注册单元测试模块的接口实现并加载到单元测试模块;计算环境构建模块,用于根据计算环境构建模块的接口实现,生成引擎构建任务和数据存储装置构建任务;利用引擎构建任务构建Spark计算引擎,并利用数据存储装置构建任务构建数据存储装置;单元测试模块,用于根据单元测试模块的接口实现,生成单元测试任务;并将单元测试任务加载到Spark计算引擎中执行,输出单元测试报告;数据存储装置,用于存储单元测试相关的测试数据。

技术领域

本发明涉及软件测试领域,尤其涉及一种单元测试方法及装置、存储介质。

背景技术

在大规模数据计算场景下,Apache Spark凭借其在优越的计算性能,极强表达能力,完善的生态系统在当下已成为主流的大数据计算引擎。现有用于生产的Spark数据计算主要是通过Spark计算引擎来读取数据存储装置的数据,对数据进行加工处理后,最终写入数据存储装置中,由此,Spark数据计算的运行依赖会比较复杂,目前Spark的运行环境也仅支持提交完整的Spark计算任务,对于计算任务内的细粒度的逻辑单元很难针对性的去运行测试,所以现有的测试方法,一般考虑整体计算结果的正确性,会针对Spark计算最终的结果数据进行检验,主要使用数据存储装置自身支持的结构化查询语言(StructuredQuery Language,SQL)来对结果数据进行校验,会导致测试工作量大,测试过程中的运行效率低的问题。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明实施例期望提供一种单元测试方法及装置、存储介质,能够降低Spark测试的测试工作量、提高Spark测试的运行效率。

本发明的技术方案是这样实现的:

本申请实施例提出一种单元测试装置,所述装置包括:单元测试加载模块、计算环境构建模块和单元测试模块;

所述单元测试加载模块,用于根据定义的Spark单元测试,注册所述计算环境构建模块的接口实现并加载到所述计算环境构建模块,以及注册所述单元测试模块的接口实现并加载到所述单元测试模块;

所述计算环境构建模块,用于根据所述计算环境构建模块的接口实现,生成引擎构建任务和数据存储装置构建任务;利用所述引擎构建任务构建Spark计算引擎,并利用所述数据存储装置构建任务构建数据存储装置;

所述单元测试模块,用于根据所述单元测试模块的接口实现,生成单元测试任务;并将所述单元测试任务加载到所述Spark计算引擎中执行,输出单元测试报告;

所述数据存储装置,用于存储所述单元测试相关的测试数据。

本申请实施例提出一种单元测试方法,应用于上述单元测试装置,所述方法包括:

根据定义的Spark单元测试,构建Spark计算引擎和数据存储装置;所述数据存储装置配置为支持所述Spark计算引擎的读写访问;

将用例数据导入所述数据存储装置中;

基于所述用例数据在所述Spark计算引擎中执行被测试Spark单元,得到单元执行结果;并对所述单元执行结果进行断言检验,得到单元测试报告。

本申请实施例提供了一种存储介质,其上存储有计算机程序,应用于单元测试装置,该计算机程序被处理器执行时实现上述所述的单元测试方法。

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