[发明专利]基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备

说明书

本申请公开一种基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备，其中基线更新方法包括：获取电容传感器在各个采样时刻的电容变化量与对应的基线值之间的差值，得到第一检测差值；根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态；根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值。其使各个基线值与相应电容传感器所处状态和/或环境相匹配，可以提高依据相应基线进行电容传感器与参照物之间相对状态检测的准确性。

技术领域

本申请涉及感应检测技术领域，具体涉及一种基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备。

背景技术

目前，越来越多的电子设备需要遵循SAR(电磁波吸收比值)标准，市面上使用的SAR传感器多为电容传感器，电子设备往往是基于电容式传感器极板间不同的距离有不同的电容值这一特性，检测其相对于人体或者其他物体这些参照物之间为接近或者远离的参考相对状态。具体地，电子设备需要检测电容传感器的电容变化量，设置电容传感器的基线，获取电容变化量与基线之间的第一检测差值，依据该第一检测差值判定电子设备与参照物之间属于接近或者远离的参考相对状态；其中基线往往是采用跟踪电容变化量的方式确定。

上述检测方案在一定程度上可以确定电子设备与参照物的参考相对状态，然而在电子设备缓慢靠近参照物，和/或电子设备处于抖动环境等特定场景，传统方案确定的基线难以准确反映环境变化，失去参考价值，这样在上述特定场景中据此检测的参考相对状态容易出现准确性低的问题。

发明内容

鉴于此，本申请提供一种基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备，使用于电子设备和参照物间相对状态检测的基线能够随环境变化调整。

本申请第一方面提供一种基线更新方法，包括：

获取电容传感器在各个采样时刻的电容变化量与对应的基线值之间的差值，得到第一检测差值；

根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态；其中，所述检测阈值用于识别所述第一检测差值表征的电容传感器与参照物之间的相对状态；

根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值。

可选地，所述参考相对状态包括第一相对状态和第二相对状态；所述第一相对状态和所述第二相对状态对应不同的基线更新规则；所述根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值包括：在所述第一相对状态下，采用电容变化量跟踪式确定各个采样时刻的基线值；其中，所述电容变化量跟踪式用于跟踪所述电容变化量；在所述第二相对状态下，获取所述电容变化量的变化参数；根据所述变化参数获取当前环境对应的基线更新规则；其中，所述变化参数用于表征所述电容变化量在设定时段的变化特征。

可选地，所述检测阈值包括所述正噪声阈值；所述根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态包括：在所述第一检测差值小于所述正噪声阈值时，判定所述电容传感器与参照物在对应的采样时刻处于所述第一相对状态；在所述第一检测差值大于或者等于所述正噪声阈值时，判定所述电容传感器与参照物在对应的采样时刻处于所述第二相对状态。

可选地，在判定所述电容传感器与参照物在对应的采样时刻处于所述第一相对状态之后，所述基线更新方法还包括：若所述第一检测差值连续m1次均小于温度升高阈值，将所述基线值冻结m2次；所述温度升高阈值用于识别所述电容传感器所处的温度升高环境。

可选地，在将所述基线值冻结m2次之后，所述基线更新方法还包括：将当前采样时刻的基线值确定为当前采样时刻的电容变化量。