[发明专利]镀膜脆断法在审

专利信息
申请号: 202110792519.8 申请日: 2021-07-14
公开(公告)号: CN113533402A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 黎爽;邓平晔 申请(专利权)人: 北京市理化分析测试中心
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/2251
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100089 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 镀膜 脆断法
【权利要求书】:

1.一种针对制备高分子薄膜的镀膜脆断法,其特征在于,通过离子溅射的方式在其正反两面分别喷镀一定厚度的金属膜层,其作用在于利用金属的硬度,低温环境中在夹持力的作用下使材料迅速达到脆断的效果,从而制备出材料完整的断面结构。

2.根据权利要求1所述的镀膜脆断法,将待脆断材料裁剪为10mm×5mm(长×宽)或近似尺寸,以适合后续材料脆断过程操作和电子显微观察的尺寸需要。

3.根据权利要求1所述的镀膜脆断法,针对待制备材料的柔韧度、密度、微结构、层数等不同特点,通过离子溅射的方式在其正反两面分别喷镀不同厚度的金属膜层。

4.根据权利要求1所述的镀膜脆断法,脆断过程的所有操作均须在液氮低温环境中完成。

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