[发明专利]测试结构件和测试系统

说明书

本公开提供一种测试结构件，包括通用匹配件、连接器匹配件、多条信号传输线和至少一个接地信号线；所述通用匹配件包括匹配平面和与所述匹配平面相对的参考面，所述接地信号线与所述参考面电连接；所述连接器匹配件包括参考壳体和阻抗调节部，所述阻抗调节部设置在所述阻抗调节部中，待测试的连接器的导电探针能够在所述参考壳体的底端面的任意位置插入所述参考壳体中；所述接地信号线设置在所述阻抗调节部中，所述信号传输线贯穿所述通用匹配件和所述阻抗调节部，且相邻两个信号传输线的第一端之间的间隔大于该相邻两个信号传输线的第二端之间的间隔。本公开还提供一种测试系统。

技术领域

本公开涉及通信设备的测试领域，具体地，涉及一种测试结构件和一种包括该测试结构件的测试系统。

背景技术

连接器是通信系统的重要组成部分，主要作用是将通信系统中的两个电气器件电连接、并为连接在一起的电气器件提供力学支撑。随着通信技术的发展，通信系统的结构也越来越复杂，用到连接器的场合也越来越多。随着通信过程中对时延要求、以及数据处理量要求越来越高，相应地，对通信系统中的连接器的电气性能和指标要求也越来越严格。

为了确定连接器的电气性能和指标，需要对连接器进行性能测试。在相关技术中，常用的测试方法如下：

利用待测试的连接器与定制好的至少两块测试用印刷电路板(PCB，printcircuit board)电连接，随后使用网络分析仪与测试用PCB电连接，通过网络分析仪分析连接器的电气性能和指标。

但是，利用上述测试方法时，需要针对连接器定子测试用PCB，提高了测试成本。并且，使用上述方法对连接器进行测试后，也对连接器造成了不可逆转的损伤。

发明内容

本公开提供一种测试结构件和一种包括该测试结构件的测试系统。

作为本公开的第一个方面，提供一种测试结构件，其中，所述测试结构件包括通用匹配件、连接器匹配件、多条信号传输线和至少一个接地信号线；

所述通用匹配件包括匹配平面和与所述匹配平面相对的参考面，所述接地信号线与所述参考面电连接；

所述连接器匹配件包括参考壳体和阻抗调节部，所述阻抗调节部设置在所述阻抗调节部中，所述参考壳体的顶端面与所述参考面电连接，待测试的连接器的导电探针能够在所述参考壳体的底端面的任意位置插入所述参考壳体中；

所述接地信号线设置在所述阻抗调节部中，且所述接地信号线分别与所述参考壳体以及所述参考面电连接，所述信号传输线贯穿所述通用匹配件和所述阻抗调节部，所述信号传输线上用于与待测试的连接器的导电探针电连接的端面的朝向与所述底端面的朝向相同，所述信号传输线的第一端从所述匹配平面穿出。

可选地，所述参考壳体由第一导电材料制成，所述第一导电材料的硬度低于第一预设阈值，以使得所述导电探针能够插入所述参考壳体的底端面中。

可选地，所述第一预设阈值的肖氏硬度取值在70至90之间，所述第一导电材料的电阻率不超过100Ω·m，所述第一导电材料的屏蔽效能不低于90dB。

可选地，所述信号传输线的第二端从所述阻抗调节部的底端面穿出，相邻两个信号传输线的第二端之间的间隔与待测试的连接器的相邻两个导电探针之间的间隔相匹配，且相邻两个信号传输线的第一端之间的间隔大于该相邻两个信号传输线的第二端之间的间隔。

可选地，所述信号传输线包括电连接的第一信号传输部和第二信号传输部，所述第一信号传输部贯穿所述通用匹配件，所述第二信号传输部贯穿所述阻抗调节部中；