[发明专利]一种基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法及系统

权利要求书

1.一种基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，包括如下步骤：

对基桩的内孔孔壁进行全景环绕拍摄，以得到整个所述基桩的内孔的孔壁图像；

对所述孔壁图像进行图像识别，以确定所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置；

根据所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置，确定所述基桩的各个缺陷部位的位置；及

计算各个具有缺陷的子图像的总面积占所述孔壁图像的全面积的比重，以实现对所述基桩的各个缺陷部位的定量化评价，进而以实现对所述基桩的完整性进行定量化评价。

2.根据权利要求1所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，所述对基桩的内孔孔壁进行全景环绕拍摄，以得到整个所述基桩的内孔的孔壁图像包括如下步骤：

通过将摄像单元垂直伸入所述基桩的内孔并驱动所述摄像单元从基桩桩顶向基桩桩底移动，以使所述摄像单元对所述基桩的内孔孔壁进行全景环绕拍摄，进而以得到整个所述基桩的内孔的孔壁图像。

3.根据权利要求2所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，在所述摄像单元垂直伸入所述基桩的内孔进行全景环绕拍摄的过程中，使所述摄像单元贴近所述基桩的内孔孔壁进行拍摄。

4.根据权利要求1所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，所述对所述孔壁图像进行图像识别，以确定所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置之前还包括如下步骤：

将经全景环绕拍摄得到的所述孔壁图像展开，以得到矩形状的孔壁图像。

5.根据权利要求1所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，所述对所述孔壁图像进行图像识别，以确定所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置之前还包括如下步骤：

对所述孔壁图像进行图像预处理。

6.根据权利要求5所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，所述对所述孔壁图像进行图像预处理包括如下至少一个步骤：

调节所述孔壁图像的亮度；及

对所述孔壁图像的对比度进行增强处理。

7.根据权利要求1所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，所述对所述孔壁图像进行图像识别，以确定所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置之后还包括如下步骤：

对所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像进行圈闭。

8.根据权利要求1所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，所述计算各个具有缺陷的子图像的总面积占所述孔壁图像的全面积的比重，以实现对所述基桩的各个缺陷部位的定量化评价，进而以实现对所述基桩的完整性进行定量化评价包括如下步骤：

对经图像识别后的所述孔壁图像进行矢量化处理；

对经矢量化处理后的所述孔壁图像的全面积及各个具有缺陷的子图像的总面积进行计算；及

将各个具有缺陷的子图像的总面积除以所述孔壁图像的全面积，以得到各个具有缺陷的子图像的总面积相对于所述孔壁图像的全面积的比重，进而以实现对所述基桩的各个缺陷部位的定量化评价，从而以实现对所述基桩的完整性进行定量化评价。

9.根据权利要求8所述的基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价方法，其特征在于，定义PID为基桩完整性指标，所述PID的计算公式如下：

PID＝1-M

其中：M为所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像的总面积占所述孔壁图像的全面积的比重；S为所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像的总面积；S₀为所述孔壁图像的无缺陷的子图像的总面积；S+S₀为所述孔壁图像的全面积；D为所述基桩的内孔直径；H为所述基桩的深度。

10.一种基于孔内成像的基桩缺陷定量化评价系统，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于对基桩的内孔孔壁进行全景环绕拍摄，以得到整个所述基桩的内孔的孔壁图像；

图像识别模块，用于对所述孔壁图像进行图像识别，以确定所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置；

定位模块，用于根据所述孔壁图像的各个具有缺陷的子图像在所述孔壁图像上的位置确定所述基桩的各个缺陷部位的位置；及

计算模块，用于计算各个具有缺陷的子图像的总面积占所述孔壁图像的全面积的比重，以实现对所述基桩的各个缺陷部位的定量化评价，进而以实现对所述基桩的完整性进行定量化评价。