[发明专利]用于生成样品载体的伪影减少的概览相片的方法和显微镜

说明书

本发明公开了一种用于在显微镜(1)中生成具有样品(4)的样品载体(2)的伪影减少的概览相片的方法。在第一步骤(S1)中，从第一视角拍摄样品载体(2)的两个第一概览原始图像，其中，每个第一概览原始图像均以单独照明状态来拍摄。在第二步骤(S2)中，从另外的第二视角拍摄样品载体(2)的两个第二概览原始图像，其中，每个第二概览原始图像也以单独照明状态来拍摄。在第三步骤(S3)，通过组合概览原始图像来生成伪影减少的概览相片，其中，去除了不应分配给样品4的结构的伪影。

技术领域

本发明涉及一种用于在显微镜中生成样品载体的伪影减少的概览相片的方法。拍摄样品载体的概览原始图像，样品位于该样品载体上，其中，概览原始图像具有不应分配给样品的结构的伪影。

本发明还涉及一种用于对待布置在样品容腔中的具有样品的样品载体进行成像并用于生成伪影减少的概览相片的显微镜。显微镜具有检测装置，该检测装置具有带有像场的相机，样品容腔位于该像场中。显微镜还具有照明装置，该照明装置由多个照明元件组成并以透射光照明样品容腔。显微镜还具有处理装置，该处理装置控制照明装置并控制和读出检测装置，，以便拍摄具有不应分配给样品的结构的伪影的概览原始图像。

背景技术

从DE102017111718A1已知一种用于生成和分析概览对比图像的方法。使用二维照明模式以透射光照明样品载体，其中，产生至少两个概览原始图像。这些概览原始图像或是以样品载体相对于照明模式的不同的侧向位移位置被拍摄，或是以不同的照明模式被拍摄。然后将概览原始图像组合成概览对比图像。

通常，在概览原始图像中仅对样本所在的平面感兴趣。因此，样品平面由样品限定，例如由平面样品或样品内显微镜的焦平面限定。不过，在大多数情况下，在该样品平面中不仅包含样品，而且还包含不应分配给样品的结构。这种结构通常轴向延伸，即超出样品平面延伸到其他平面中。结构中的超出样品平面延伸的部分导致伪影。伪影在概览相片中是有干扰的，因为当伪影覆盖样品的区域时，伪影会限制样品的可见性。干扰结构可以分为两种类型。一方面，干扰结构可以位于样品载体上。示例有例如在室载片、多孔板或培养皿的情况下样品器皿的侧壁或盖。另一方面，干扰结构不会位于样品载体上，而是图像拍摄过程的元件。示例有照明单元、三脚架处的结构或周围空间中的物体。

应该提供一种用于在显微镜中生成样品载体的伪影减少的概览相片的方法和显微镜。

发明内容

本发明在独立权利要求中作了限定。有利的改进方案在从属权利要求中给出。优选实施方式以相同的方式应用于该方法和该装置。

提供了一种用于在显微镜中生成具有样品的样品载体的伪影减少的概览相片的方法。还提供了一种用于生成伪影减少的概览相片的显微镜。

在所述方法中，在第一步骤中，从第一视角拍摄具有样品的样品载体的两个第一概览原始图像，其中，每个概览原始图像均以单独照明状态来拍摄。

在拍摄第一概览原始图像时的单独照明状态可以以不同的方式实现。为了生成单独照明状态，参照DE102017111718A1，其在此方面完全并入本文。

在一个优选实施方式中，单独照明状态通过不同时间的照明来实现。在这里，两个第一概览原始图像中的每一个均以单独曝光时间或以相同曝光时间下的单独照明来拍摄。在实施方式中，单独照明状态还可以通过空间不同的照明来实现。

优选地，为了生成单独照明状态，在拍摄每个第一概览原始图像时在照明装置中切换单独照明模式，从而在拍摄两个第一概览原始图像时单独照明样品载体。原则上，大量的照明模式适用于此。特别优选地，使用二维阵列状照明。当拍摄两个第一概览原始图像时，照明装置的单独照明元件单独或成组地被接通，以便为每个第一概览原始图像生成单独照明状态。在这里，必须始终接通单独照明元件的一部分。