[发明专利]基于材质分析技术的抠像方法、装置、设备以及存储介质有效
申请号: | 202110797092.0 | 申请日: | 2021-07-14 |
公开(公告)号: | CN113487630B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 李艳飞;李健;王研;李媛媛;王琳琳;周浩;张晓峰 | 申请(专利权)人: | 辽宁向日葵教育科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T7/194;G06N3/04;G06T7/13 |
代理公司: | 北京君泊知识产权代理有限公司 11496 | 代理人: | 李丹 |
地址: | 110000 辽宁省沈阳*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 材质 分析 技术 方法 装置 设备 以及 存储 介质 | ||
1.一种基于材质分析技术的抠像方法,其特征在于,所述方法包括:
接收待抠图图像,利用抠图模型对所述待抠图图像进行图像分割,得到分割图像,其中,所述分割图像包括:前景区域、背景区域以及未知区域;
利用分类器对所述前景区域进行区域划分,生成多个子前景区域,并根据每个所述子前景区域的材质类别,确定每个所述子前景区域的不透明度;
根据每个所述子前景区域的不透明度,更新所述未知区域中每个未知像素点的不透明度,根据更新后的所述不透明度,确定所述未知区域的待抠图区域;
根据所述前景区域、所述待抠图区域以及所述背景区域,生成所述待抠图图像的抠像结果;
所述根据每个所述子前景区域的不透明度,更新所述未知区域中每个未知像素点的不透明度,包括:
查询每个所述子前景区域中的前景像素点;
计算每个所述前景像素点与每个所述未知像素点的相似度;
将所述相似度大于预设相似度的前景像素点的不透明度作为其对应未知像素点的不透明度。
2.如权利要求1所述的基于材质分析技术的抠像方法,其特征在于,所述利用抠图模型对所述待抠图图像进行图像分割,得到分割图像,包括:
利用所述抠图模型中的分割网络分割所述待抠图图像的抠图区域;
根据所述抠图区域,利用所述抠图模型中的回归网络对所述待抠图图像进行抠图,生成所述待抠图图像的分割图像。
3.如权利要求2所述的基于材质分析技术的抠像方法,其特征在于,所述利用所述抠图模型中的分割网络分割所述待抠图图像的抠图区域,包括:
利用所述分割网络中的卷积层对所述待抠图图像进行特征提取,得到特征图像;
利用所述分割网络中的池化层对所述特征图像进行降维,得到降维图像;
利用所述分割网络中的全连接层输出所述降维图像的抠图区域。
4.如权利要求2所述的基于材质分析技术的抠像方法,其特征在于,所述根据所述抠图区域,利用所述抠图模型中的回归网络对所述待抠图图像进行抠图,生成所述待抠图图像的分割图像,包括:
利用所述回归网络中的降噪层对所述抠图区域进行降噪处理,得到降噪区域;
利用所述回归网络中的边缘检测函数计算所述降噪区域的边缘梯度;
根据所述边缘梯度,利用所述回归网络的输出层输出所述降噪区域,得到分割图像。
5.如权利要求1所述的基于材质分析技术的抠像方法,其特征在于,所述利用分类器对所述前景区域进行区域划分,生成多个子前景区域,包括:
利用所述分类器中的区域检测模块检测所述前景区域的目标物区域;
利用所述分类器中的位置序列识别模块识别所述目标物区域的位置序列;
根据所述位置序列,利用所述分类器中的前馈神经网络输出所述目标物区域,生成多个子前景区域。
6.如权利要求5所述的基于材质分析技术的抠像方法,其特征在于,所述利用所述分类器中的区域检测模块检测所述前景区域的目标物区域,包括:
利用所述区域检测模块中的卷积层对所述前景区域进行卷积操作,得到特征区域;
利用所述区域检测模块中的融合层将所述前景区域的底层特征与所述特征区域进行融合,得到目标特征区域;
利用所述区域检测模块中的激活函数输出所述目标特征区域的检测结果;
根据所述检测结果,从所述前景区域中筛选出存在目标物区域的图像,得到目标物区域。
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