[发明专利]多节轴类产品测量装置及其使用方法

说明书

本发明提供了一种多节轴类产品测量装置，用以测量多节轴类产品各节轴的长度和直径，所述多节轴类产品测量装置包括水平导轨、设置在所述水平导轨上的检测装置、与所述水平导轨相对固定的支撑件，所述检测装置沿所述水平导轨可滑动设置，所述检测装置包括相对固定设置的发光器和受光器，所述发光器朝向所述受光器发光，所述支撑件支撑所述多节轴类产品，所述多节轴类产品位于所述发光器与所述受光器之间以遮挡光线，所述水平导轨延伸方向与所述发光器发射光线所在平面垂直。本发明的多节轴类产品测量装置及其使用方法，可以测量所述多节轴类产品每一节的长度和直径，精度更高，测量效率高。

技术领域

本发明涉及一种多节轴类产品测量装置及其使用方法。

背景技术

具有多节的轴类产品广泛应用于机械系统和机械加工中，例如内燃机中的曲轴和凸轮以及笔杆模具等。由于多节轴类产品的各节具有特定功能，其各节的外径和长度精度直接影响机械系统寿命和机械加工品质。因此，有必要对多节轴类产品的各节外径和长度进行满足要求的测量，去除不良的多节轴类产品和反馈控制多节轴类加工工艺，保证多节轴类产品精度，确保多节轴类产品的机械系统寿命和机械加工品质。

传统中，多节轴类产品主要使用投影测量法和像素尺寸测量法实现各节外径和长度的测量。投影测量对操作人员要求高，对产品各节的位置进行肉眼标记，通过灰度测算达到测量各节外径长度的目的。该方法测量效率低下和测量结果受人为因素影响较大，且无法实现通过测量误差分离提高测量精度，已逐渐不能满足工业界的高效、高精度的测量要求。像素测量法使用面阵CCD拍摄工件二维轮廓，通过计算任意两个特征之间像素点数量达到外径和长度测量的目的。微米级的像素点尺寸决定了像素测量只能达到10微米级的测量精度，同时在大尺寸工件测量时使用的拼接测量会进一步降低像素测量的精度。

有鉴于此，有必要对现有的多节轴类产品测量装置予以改进，以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多节轴类产品测量装置，以解决现有检测装置对直径和长度的测量效率低下、测量精度低的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种多节轴类产品测量装置，用以测量多节轴类产品各节轴的长度和直径，所述多节轴类产品测量装置包括水平导轨、设置在所述水平导轨上的检测装置、与所述水平导轨相对固定的支撑件，所述检测装置沿所述水平导轨可滑动设置，所述检测装置包括相对固定设置的发光器和受光器，所述发光器朝向所述受光器发光，所述支撑件支撑所述多节轴类产品，所述多节轴类产品位于所述发光器与所述受光器之间以遮挡光线，所述水平导轨延伸方向与所述发光器发射光线所在平面垂直。

作为本发明的进一步改进，所述多节轴类产品测量装置还包括底座，所述水平导轨和所述支撑件固定在所述底座上。

作为本发明的进一步改进，所述支撑件包括立柱和电磁铁，所述多节轴类产品采用铁磁性材料制得，所述多节轴类产品固定在所述电磁铁上。

作为本发明的进一步改进，所述多节轴类产品的轴线所在平面垂直于所述水平导轨所在平面和光线所在平面。

作为本发明的进一步改进，所述多节轴类产品的轴线与所述水平导轨所在平面的夹角为6度。

作为本发明的进一步改进，所述检测装置包括用以固定所述发光器和受光器的固定底座，所述水平导轨包括导轨和与所述固定底座配合的溜板，所述溜板可沿所述导轨移动。

作为本发明的进一步改进，所述发光器包括朝向受光器设置的发光窗口，所述受光器包括朝向所述发光器的受光窗口，所述发光窗口用以产生光线，所述多节轴类产品遮挡光线时，所述受光窗口自上而下被分为上沿透光区、遮挡区和下沿透光区。

作为本发明的进一步改进，所述多节轴类产品测量装置还包括与受光器、水平导轨和支撑件电性连接的控制器、与所述控制器电性连接的上位机。