[发明专利]检测装置、逆变器及检测方法

权利要求书

1.一种检测装置，用于检测导体中流过的漏电流，其特征在于，包含：

一磁芯，及分别缠绕在该磁芯上的一检测绕组和一校准绕组；

一检测电路，耦接于该检测绕组，用以采样该检测绕组的一检测信号，以取得一漏电流检测值；以及

一校准电路，耦接于该校准绕组，用以提供一校准信号至该校准绕组。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包含：

一驱动电路，耦接于该检测绕组、该检测电路及一直流源，用以接收该检测信号，根据该检测信号和该直流源产生一激励信号，并将该激励信号提供至该检测绕组。

3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，该驱动电路与该检测电路形成自振，以产生该激励信号，以控制该驱动电路周期性地对该检测绕组进行充磁及去磁。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该检测电路包含：

一采样电阻，耦接于该检测绕组；

一差分采样器，并联耦接于该采样电阻，用以采样该检测绕组的该检测信号；以及

一低通滤波器，耦接于该差分采样器，用以对该检测信号进行低通滤波以取得该漏电流检测值。

5.如权利要求2或3所述的检测装置，其特征在于，该驱动电路包含：

一迟滞比较器，用以接收该检测信号，并且比较该检测信号及一预设阀值而产生一比较结果，其中该迟滞比较器根据该比较结果输出一第一控制信号；

一反相器，耦接于该迟滞比较器，并用以对该第一控制信号进行反相以产生一第二控制信号；以及

一激励驱动器，其第一输入端耦接于该迟滞比较器以接收该第一控制信号，其第二输入端耦接于该反相器以接收该第二控制信号，根据该第一控制信号和该第二控制信号产生该激励信号。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该漏电流检测值及该漏电流满足一直线方程；

其中，该校准电路提供第一校准信号至该校准绕组，通过该检测电路取得与该第一校准信号对应的一第一漏电流检测值，并根据该第一校准信号及该第一漏电流检测值以校准该直线方程的零点；以及该校准电路提供第二校准信号至该校准绕组，通过该检测电路取得与该第二校准信号对应的一第二漏电流检测值，并根据该第二校准信号及该第二漏电流检测值校准该直线方程的斜率。

7.一种逆变器，其特征在于，包含：

一交流侧；以及

如权利要求1-6任一项所述的检测装置；

其中，该检测装置耦接于该交流侧，以检测通过该交流侧的漏电流。

8.如权利要求7所述的逆变器，其特征在于，该交流侧包括多个功率线，该多个功率线穿过该磁芯。

9.一种检测方法，其特征在于，应用于一检测装置，该检测装置包含磁芯、分别缠绕在该磁芯上的一检测绕组和一校准绕组、一检测电路及一校准电路，该检测电路耦接于该检测绕组，该校准电路耦接于该校准绕组，其中该检测方法包含：

透过该检测电路以采样该检测绕组的一检测信号，以取得一漏电流检测值；

透过该校准电路以提供一校准信号至该校准绕组。

10.如权利要求9所述的检测方法，该检测装置还包含一驱动电路，其一端耦接于该检测绕组，另一端耦接于该检测电路，其特征在于，还包含：

透过该驱动电路以接收该检测信号，根据该检测信号产生一激励信号，并将该激励信号提供至该检测绕组。

11.如权利要求10所述的检测方法，其特征在于，该驱动电路与该检测电路形成自振，以产生该激励信号，以控制该驱动电路周期性地对该检测绕组进行充磁及去磁。

12.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，该漏电流检测值及该漏电流满足一直线方程；

其中，透过该校准电路以提供第一校准信号至该校准绕组；透过该检测电路取得与该第一校准信号对应的一第一漏电流检测值，并根据该第一校准信号及该第一漏电流检测值以校准该直线方程的零点；以及

透过该校准电路以提供第二校准信号至该校准绕组；透过该检测电路取得与该第二校准信号对应的一第二漏电流检测值；根据该第二校准信号及该第二漏电流检测值校准该直线方程的斜率。