[发明专利]可测量物质在超高压条件下的二次谐波的装置及其应用

权利要求书

1.一种可测量物质在超高压条件下的二次谐波的装置，其特征在于，包括：

激光激发部，提供入射激光，并将入射激光转换为偏振光；

显微光路部，改变所述偏振光的光路，至该偏振光聚焦到待测样品上，激发二次谐波并使该二次谐波沿入射激光原光路返回；

载物部，包含金刚石对顶砧压机，以放置并固定待测样品；以及

信号接收部，接收显微光路部中返回的二次谐波的激光信号并将该激光信号转换成电信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述激光激发部中包括：

激光器，提供入射激光；

可自由旋转的起偏镜，接收并将所述入射激光转换为偏振光。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述激光器为皮秒激光器；所述入射激光波长为1064nm。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述显微光路部中包括若干全反射镜、第一分束镜和位于全反射镜与待测样品之间的物镜。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述信号接收部中包括：

滤光片，位于光电倍增管与第一分束镜之间，接收透过第一分束镜的波长为入射激光波长1/2的激光；

光电倍增管，接收透过上述滤光片的波长为入射激光波长1/2的激光信号，并将该激光信号转换成电信号。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括观察相机和探照灯。

7.一种测量物质在超高压条件下的二次谐波的方法，其特征在于，包括如下步骤：

将待测样品置于金刚石对顶砧压机样品腔内；

激光激发部提供入射激光，并将该入射激光转换为偏振光；

改变所述偏振光的光路，至该偏振光聚焦到待测样品上，并激发待测样品产生二次谐波；

激发产生的二次谐波部分随反射的入射激光沿原光路返回；

接收返回的二次谐波的激光信号并将该激光信号转换成电信号。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，聚焦到待测样品上的偏振光完全覆盖所述待测样品。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，改变偏振光的极化角度，测试并记录在不同极化角度下，返回的二次谐波的激光信号强度。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述待测样品处于常压或高压或超高压的状态。