[发明专利]一种测量材料横波声速的方法

权利要求书

1.一种测量材料横波声速的方法，其特征在于，包括，利用相控阵超声探伤仪的单个探头对检测工件进行扇形扫描，检测工件的底面粗糙，相控阵超声探伤仪的S视图显示部件底部回波信号，根据底部回波信号倾斜情况调整输入于相控阵超声探伤仪的横波声速值，直接测得检测工件的横波声速。

2.如权利要求1所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤a、设置相控阵超声探伤仪的聚焦法则，扫描方式设置为扇形扫描，设置聚焦深度；

步骤b、在检测工件的检测区域涂抹耦合剂，将相控阵超声探伤仪的探头放在检测工件上，向相控阵超声探伤仪输入预估的横波声速，在S视图中找到检测工件的底面回波信号，此时增加相控阵超声探伤仪的增益；

步骤c、当S视图中不同声束角度的底面回波信号显示的深度均在同一深度，呈现为一条水平线时，则相控阵超声探伤仪输入的横波声速与实际的材料横波声速相同，得出材料横波声速。

3.如权利要求2所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，步骤c中，当相控阵超声探伤仪输入的横波声速小于实际的材料横波声速时，S视图底面回波信号不在同一深度；随声束角度的增大，底面回波信号显示的深度增大，且声束角度越大其变化速度越快；

当相控阵超声探伤仪输入的横波声速大于实际的材料横波声速时，S视图底面回波信号不在同一深度；随声束角度的增大，底面回波信号显示的深度减小，且声束角度越大其变化速度越快。

4.如权利要求2所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，步骤a中，聚焦深度设置为1倍的检测工件的厚度，检测工件的厚度未知时，聚焦深度设置为检测工件的厚度的近似值或估计值，步骤c中，底面回波信号呈现为一条水平线时，底面回波信号所在的纵坐标刻度值为检测工件的实际厚度。

5.如权利要求3所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，步骤a中，声束角度设置为30°～70°。

6.如权利要求3所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，步骤a中，设置聚焦法则前进行准备工作，包括：初始化仪器，清除相控阵超声探伤仪的当前所有参数设置，还原默认值；组建立，按向导提示设置板厚，输入检测工件厚度，选择探头和楔块。

7.如权利要求6所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，选择的探头频率为2.5～7.5Mhz，探头的晶片数至少为32个；选择的楔块为55°斜楔块。

8.如权利要求6所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，设置聚焦法则之后，进行探头和楔块的校准，通过延迟校准修正楔块因使用磨损产生的尺寸偏差造成的聚焦法则计算误差；通过灵敏度校准修正补偿不同角度之间的灵敏度差异。

9.如权利要求2所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，当需要调节输入的横波声速时，使用相控阵超声探伤仪的辅助线帮助观察各声束角度的底面回波是否在同一水平线上，结合闸门读数对声速进行微调。

10.如权利要求9所述的测量材料横波声速的方法，其特征在于，大于或等于±20m/s的声速误差通过肉眼观察直接调节。