[发明专利]近红外量子光场成像探测仪

权利要求书

1.一种近红外量子光场成像探测仪，其特征在于，包括晶体、定焦镜头、支架、温度传感器、变频控制驱动器以及温控器，所述温控器跟所述支架相接，所述变频控制驱动器与所述温控器相接，所述温度传感器的接口跟所述变频控制驱动器相接，所述温度传感器的探头跟所述支架相接，所述支架用于跟晶体配合；所述变频控制驱动器用于驱动温控器的触发频率，所述变频控制驱动器触发时的脉冲宽度不变。

2.如权利要求1所述的近红外量子光场成像探测仪，其特征在于，所述支架包括盖支架以及托支架，所述盖支架与托支架之间用于放置晶体。

3.如权利要求2所述的近红外量子光场成像探测仪，其特征在于，还包括底座，所述托支架设置于底座上，所述温控器设置于底座与托支架之间。

4.如权利要求1所述的近红外量子光场成像探测仪，其特征在于，所述定焦镜头包括第一透镜片、第二透镜片以及第三透镜片，所述第二透镜片位于第一透镜片与第三透镜片之间。

5.如权利要求4所述的近红外量子光场成像探测仪，其特征在于，所述第一透镜片的两侧分别为第一镜面与第二镜面，所述第二透镜片的两侧分别为第三镜面与第四镜面，所述第三透镜片的两侧分别为第五镜面与第六镜面，所述第一镜面为凸镜面，所述第二镜面为凹镜面，所述第三镜面为凹镜面，所述第四镜面为平镜面，所述第五镜面为凸镜面，所述第六镜面为凹镜面，所述第一镜面与第二镜面，所述第二透镜片位于第二镜面与第五镜面之间。

6.如权利要求4所述的量子光场成像系统，其特征在于，所述第一透镜片、第二透镜片以及第三透镜片上镀有减反膜。

7.如权利要求4所述的量子光场成像系统，其特征在于，所述第二透镜片为光学玻璃透镜片，所述第三透镜片为光学玻璃透镜片，所述第一透镜片为硫系玻璃透镜片。