[发明专利]一种半导体结构的制备方法、半导体结构和电容结构有效
申请号: | 202110817629.5 | 申请日: | 2021-07-20 |
公开(公告)号: | CN113594096B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 邱定中 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H10B12/00 | 分类号: | H10B12/00;H10N97/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张竞存;张颖玲 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 结构 制备 方法 电容 | ||
本申请实施例提供了一种半导体结构的制备方法、半导体结构和电容结构,该制备方法包括:提供基底,基底表面具有多个盲孔或沟槽;于多个盲孔或沟槽内形成填充层,填充层的顶面与基底的顶面平齐;于填充层的顶面和基底的顶面上形成覆盖层;其中,覆盖层包括至少一个叠层结构,一个叠层结构包括一层第一覆盖层和一层第二覆盖层,且第一覆盖层的掺杂材料源和第二覆盖层的掺杂材料源不同。这样,采用包含第一覆盖层和第二覆盖层的叠层结构实现覆盖层,不仅能够避免沉积过程中的应力累积问题,而且改善了覆盖层的均匀度和表面粗糙度,还能够平衡结构阻值,从而提高了半导体结构的性能。
技术领域
本申请涉及存储器制作技术领域,尤其涉及一种半导体结构的制备方法、半导体结构和电容结构。
背景技术
动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,DRAM)是计算机中常用的半导体存储器件,由许多重复的存储单元组成。每个存储单元通常包括电容器和晶体管,晶体管的栅极与字线相连、漏极与位线相连、源极与电容器相连,字线上的电压信号能够控制晶体管的打开或关闭,进而通过位线读取存储在电容器中的数据信息,或者通过位线将数据信息写入到电容器中进行存储。
目前,在DRAM的制程中,需要利用掺杂多晶硅对基底进行填充,以形成电容器,该填充过程中存在应力累积、填充不够致密等问题,导致了DRAM的性能下降。
发明内容
本申请提供了一种半导体结构的制备方法、半导体结构和电容结构,能够改善掺杂多晶硅在填充过程中的应力累积问题,同时提高填充致密性。
本申请的技术方案是这样实现的:
第一方面,本申请实施例提供了一种半导体结构的制备方法,该方法包括:
提供基底,基底表面具有多个盲孔或沟槽;
于多个盲孔或沟槽内形成填充层,填充层的顶面与基底的顶面平齐;
于填充层的顶面和基底的顶面上形成覆盖层;
其中,覆盖层包括至少一个叠层结构,一个叠层结构包括一层第一覆盖层和一层第二覆盖层,且第一覆盖层的掺杂材料源和第二覆盖层的掺杂材料源不同。
第二方面,本申请实施例提供了一种半导体结构,该半导体结构包括:
基底,基底表面具有多个盲孔或沟槽;
填充层,位于多个盲孔或沟槽内,且填充层的顶面与基底的顶面平齐;
覆盖层,位于填充层的顶面和基底的顶面;
其中,覆盖层包括至少一个叠层结构,一个叠层结构包括一层第一覆盖层和一层第二覆盖层,且第一覆盖层的掺杂材料源和第二覆盖层的掺杂材料源不同。
第三方面,本申请实施例提供了一种电容结构,包括如第二方面的半导体结构,盲孔为电容孔,电容孔内壁由内至外依次设置下电极,电容介质层和上电极,填充层位于电容孔内并覆盖上电极。
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