[发明专利]小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明涉及小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：获取上位机发送的测试指令，并根据测试指令对小卡执行电路通路测试；将测试结果返回至上位机。本发明通过获取上位机发送的测试指令，并根据测试指令对小卡执行电路通路测试，将测试结果返回至上位机；减少了测试时间，提高了生产效率，还避免服务器与PCI‑e测试卡的损耗，降低了测试成本。

技术领域

本发明涉及小卡电路通路测试技术领域，尤其是指小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

在小卡电路通路测试方面，现有传统测试方案采用的是使用功能性的PCI-e测试卡插到待测试小卡(Riser Card)上，然后再插到服务器主板上，然后开启服务器进入操作系统测试，再正常关机，取出小卡模组，拆除功能测试卡；操作步骤多且存在很高的PCI-e测试卡与服务器的损耗，测试时间长，整体测试成本高。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

小卡电路通路测试方法，包括以下步骤：

获取上位机发送的测试指令，并根据测试指令对小卡执行电路通路测试；

将测试结果返回至上位机。

其进一步技术方案为：所述获取上位机发送的测试指令，并根据测试指令对小卡执行电路通路测试步骤之前，还包括：将PCI-e测试卡插到小卡上，再将小卡插接到转接板上，并将转接板与MCU测试板连接，然后将MCU测试板与测试治具载板连接，再将测试治具载板与上位机连接。

其进一步技术方案为：所述电路通路测试包括：开路测试、短路测试、上电测试、电压监控测试、电流监控测试、及电路信号连通性测试。

其进一步技术方案为：所述将测试结果返回至上位机步骤之后，还包括：上位机对测试结果进行检测；若测试结果为合格，则上位机对小卡上的EEPROM内容烧写。

小卡电路通路测试装置，包括：获取测试单元和返回单元；

所述获取测试单元，用于获取上位机发送的测试指令，并根据测试指令对小卡执行电路通路测试；

所述返回单元，用于将测试结果返回至上位机。

其进一步技术方案为：还包括：连接单元，用于将PCI-e测试卡插到小卡上，再将小卡插接到转接板上，并将转接板与MCU测试板连接，然后将MCU测试板与测试治具载板连接，再将测试治具载板与上位机连接。

其进一步技术方案为：所述电路通路测试包括：开路测试、短路测试、上电测试、电压监控测试、电流监控测试、及电路信号连通性测试。

其进一步技术方案为：还包括：检测单元，用于上位机对测试结果进行检测。

一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的小卡电路通路测试方法。

一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的小卡电路通路测试方法。

本发明与现有技术相比的有益效果是：通过获取上位机发送的测试指令，并根据测试指令对小卡执行电路通路测试，将测试结果返回至上位机；减少了测试时间，提高了生产效率，还避免服务器与PCI-e测试卡的损耗，降低了测试成本。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。

附图说明