[发明专利]基于P区和I区渐变掺杂的4H-SiC PIN微波二极管及制作方法有效
申请号: | 202110824970.3 | 申请日: | 2021-07-21 |
公开(公告)号: | CN113555418B | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 周弘;苏春旭;张进成;刘志宏;许晟瑞;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/16 | 分类号: | H01L29/16;H01L29/06;H01L29/868;H01L21/329 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;张问芬 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 渐变 掺杂 sic pin 微波 二极管 制作方法 | ||
1.一种基于P区和I区渐变掺杂的4H-SiC PIN二极管,自下而上包括n型衬底(1)、n+层(2)、i层(3)和p+层(4),衬底(1)的下部设有阴极(5),p+层(4)的上部设有阳极(6),阳极(6)的上部设有钝化层(7),其特征在于:
所述i层(3)采用由n层组成的多层结构,且自下而上按第 1 层(31)至第n层(3n)
分布,各层分别由掺杂浓度以10为底数的对数线性递减的4H-SiC半导体材料构成,n的取值根据器件实际使用要求确定,其为大于1的整数;
所述p+层(4)采用由m层组成的多层结构,且自下而上按第 1 层(41)至第m层(4m)
分布,各层分别由掺杂浓度以10为底数的对数线性递增的4H-SiC半导体材料构成,m的取值根据器件实际使用要求确定,其为大于1的整数;所述p+层(4)的厚度为0.5~2μm,各层的厚度均相等,第1层(41)的掺杂浓度为1017cm-3 ~1018cm-3,……,第m层(4m)的掺杂浓度为1019cm-3 ~1020cm-3。
2.根据权利要求1所述的二极管,其特征在于:
所述衬底(1)和n+层(2),均采用4H-SiC材料;
所述钝化层(7)采用Si3N4或SiO2或Al2O3或玻璃。
3.根据权利要求1所述的二极管,其特征在于,所述i层(3)的厚度为2~15μm,各层的厚度均相等,且第1层(31)的掺杂浓度为1017cm-3 ~1018cm-3,……,第n层(3n)的掺杂浓度为1014cm-3 ~1015cm-3。
4.根据权利要求1所述的二极管,其特征在于,n+层(2)的厚度为0.5~2μm,掺杂浓度为1018cm-3 ~1020cm-3。
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