[发明专利]一种半导体集成电路检测仪器

权利要求书

1.一种半导体集成电路检测仪器，包括底座，其特征在于：所述底座上设有一竖直的横栏块，将所述底座上方隔开成两部分，所述横栏块一侧滑动设有两个平行并列的活动块，两个所述活动块通过连接驱动机构相互连接在一起，并且在所述连接驱动机构作用下相互对应移动，所述横栏块另一侧用于放置智能电表机构，所述智能电表机构用于测量电压电流电阻一类的数据，所述活动块上连接设有用于操控所述智能电表机构进行自由测量数据的摆臂机构，所述底座上设置有用于放置以及固定集成电路板的托板机构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述智能电表机构至少包括电表、导线、探笔以及探针，所述电表放置于所述横栏块另一侧，所述导线设置于所述电表上，其中一个所述导线为正极，一个所述导线为负极，所述探笔固连于所述导线另一端，所述探针固连于所述探笔下端。

3.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述连接驱动机构至少包括侧槽、主电机、主螺杆、副电机以及副螺杆，所述侧槽设置于所述横栏块一壁，所述主电机固设于所述侧槽一侧，所述主螺杆动力连接于所述主电机一端，一侧的所述活动块通过螺纹连接于所述主螺杆且滑动连接于所述侧槽，所述副电机固连于一侧的所述活动块一端，所述副螺杆动力连接于所述副电机一端并且转动贯穿该侧的所述活动块，另一侧的所述活动块通过螺纹连接于所述副螺杆。

4.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述摆臂机构至少包括摆臂、转臂电机、转臂以及固环，所述摆臂转动连接于所述活动块上端，所述转臂电机固设于所述摆臂上端，所述转臂动力连接于所述转臂电机上端，所述固环铰接于所述转臂上端，所述转臂通过所述转臂电机的作用相对于所述摆臂同轴转动。

5.根据权利要求4所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述探笔通过穿过所述固环以固定于所述固环上，并使所述探针朝下。

6.根据权利要求5所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述活动块上固连有顶杆，所述顶杆上端滑动连接于所述摆臂下端。

7.根据权利要求6所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述转臂上侧设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块，所述滑块与所述滑槽之间固连有推拉杆，所述滑块一端铰接有导杆，所述导杆另一端铰接于所述固环一端。

8.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述托板机构至少包括侧柱、夹板、托框、顶簧以及托框电机，所述侧柱对称的固连于所述底座上端，所述托框转动连接于所述侧柱之间，所述托框电机固连于一侧的所述侧柱内且动力连接于所述托框一端，所述托框内部贯通，所述夹板对称的设于所述托框内，所述顶簧固连于所述夹板与所述托框之间，集成电路板固定于两个所述夹板之间并通过所述顶簧夹紧以便于检测工作，。

9.根据权利要求5所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述固环下侧一端固设有喷涂标记机，所述喷涂标记机朝向所述探针下端。