[发明专利]一种液晶面板的加压系统在审

专利信息
申请号: 202110830777.0 申请日: 2021-07-22
公开(公告)号: CN113554963A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 尤佳浩;谢静静;强盼盼;陈佳智 申请(专利权)人: 深圳市联测光电科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/36;G01N27/00;G01R19/00
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 代理人: 姬莉
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 液晶面板 加压 系统
【说明书】:

发明公开了一种液晶面板的加压系统,涉及液晶显示技术领域,包括:电源供应单元用于提供N个加压讯号给液晶面板大基板做测试及加电压配向,其中N是基板中加压讯号数;电流侦侧单元用于对液晶面板大基板进行加电压时的电流进行侦测;Contact侦侧单元用于侦测扎针系统对液晶面板大基板是否正常扎针;异常品侦测单元用于提供M个侦测开关讯号,确认异常膜品位置并执行将异常膜品对应的开关元件讯号关闭,使其与正常膜品电性隔绝。本发明在加压过程中,可同时进行异常膜品定位,快速筛检出异常品并将其电性切断,与正常膜品电性隔绝,从全基板报废改善成单一膜品不良,大幅提升PSVA液晶配向良率。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域,特别是涉及一种液晶面板的加压系统。

背景技术

目前在LCD制程中有两个制程会采用大板加电压的动作,其一是Array测试制程,利用加电压可对TFT基版玻璃确认前面制程是否有异常需做修补;其二是PSVA(PolymerStabilized Vertivally Aligned)液晶配向制程,利用加电压的方式使得液晶出现转动,最终PI表面形成预倾角(Pre-tilt angle)。Array测试技术在目前的LCD制程中是完全不可缺失的一环,此制程能拦检TFT基板因前制程造成的异常问题,对于TF不良检出有极大的帮助。PSVA液晶技术已经广泛的应用在LCD制程中,其具有高对比、广视角、快速响应时间、液晶穿透效率高等特点,使得业界的主流制造商诸如华星光电、友达光电、惠科光电等面板厂皆以此技术为核心进行产品开发。PSVA技术的核心在于液晶中掺杂Polymer单体,在经过UV照光后,会与PI膜产生键结反应,最终PI表面形成预倾角(Pre-tilt angle)。

在TFT基板上array测试及PSVA的加压点位给的讯号类似,为节省基板上的走线空间,所以会将加压点位设计成同一组;因PSVA液晶需透过TFT与CF基板两端的电压,方能开始转动,进而使得掺杂在内的Polymer单体开始反应,最终在PI表面形成预倾角。其中,TFT与CF基板的电压,由外部的APS(Advance Power System)所提供,但由于投资成本、设备管理成本、以及厂房空间限制下,一般APS的数目不一定会与基板上的Panel膜品数目一致,以图1为例,加压系统内仅有6台APS以及1组GND讯号,但基板上共有18膜品,且每个膜品都需要2组APS加压讯号以及1组GND讯号。此案例中,三个Panel共用一组加压点位,但由于APS数目有限,因此一台APS需同时驱动多个Panel,以本案例来说,即一台APSA负责驱动18个膜品。在此种设计下,当某一个膜品出现短路问题,其他17膜品的加压信号也会随之影响,进而出现测试无法定位异常位置及PSVA配向不良的问题。因测试点位与PSVA共用,所以采用每三膜串接在一组测试点位的设计,当其中一膜有异常时,无法定位异常位置,因而无法修补造成三膜同时报废机率变大。

因此,本申请提出一种液晶面板的加压系统。

发明内容

本发明提供了一种LED液晶面板的加压系统,包括电源供应单元、电流侦测单元、Contact侦测单元及异常品侦测单元;

所述电源供应单元,用于提供N个加压讯号给液晶面板大基板做测试及加电压配向,其中N是基板中加压讯号数;

所述电流侦侧单元,用于对液晶面板大基板进行加电压时的电流进行侦测;

所述Contact侦侧单元,用于侦测扎针系统对液晶面板大基板是否正常扎针;

所述异常品侦测单元,用于提供M个侦测开关讯号,确认异常膜品位置并执行将异常膜品对应的开关元件讯号关闭,使其与正常膜品电性隔绝;其中,NM,M≥基板中液晶面板膜品数。

优选地,所述加压讯号包含但不限于直流电压、交流电压及接地讯号三种讯号;

N个加压讯号进入每个膜品都对应有至少一组的独立开关元件,独立开关元件闸级接到至少一个侦测开关讯号;

所述独立开关元件由TFT元件以及若干线路所组成。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市联测光电科技有限公司,未经深圳市联测光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110830777.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top