[发明专利]一种SSD固态硬盘测试方法有效

专利信息
申请号: 202110831324.X 申请日: 2021-07-22
公开(公告)号: CN113628675B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 杜秋平;李亚飞;易淼;陈惠玲 申请(专利权)人: 成都思科瑞微电子股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G06F11/34;G06F11/26
代理公司: 成都三诚知识产权代理事务所(普通合伙) 51251 代理人: 饶振浪
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 ssd 固态 硬盘 测试 方法
【说明书】:

发明公开了一种SSD固态硬盘测试方法,包括以下步骤:步骤S1:对SSD固态硬盘的抗压强度检测,并判定抗压强度检测是否合格;是,进入步骤S2;否,停止检测等步骤。本发明通过轨迹型测试法对SSD固态硬盘的性能进行测试,很好的模拟了真实应用情形,同时,通过CrystalDiskMark软件对固态硬盘的最高传输速率、最低传输速率、平均传输速率、随机存取时间、突发数据传输速率、读写速率多个项目进行测试,确保了固态硬盘的性能测试的充分性、准确性,本发明很好的解决了现有的SSD固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距,易受系统限制,测试结果精确度差的问题。

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域,具体为一种SSD固态硬盘测试方法。

背景技术

SSD即固态硬盘,又称固态驱动器,是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。固态硬盘由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。固态硬盘在生产加工完成后,需要对其进行测试,以便获取相关性能参数。

目前传统的固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距,并且易受系统限制,从而使得固态硬盘的测试结果产生偏差,继而影响性能测试结果的准确性。

发明内容

本发明解决的技术问题在于克服现有技术的固态硬盘测试方法与实际使用情况存在差距,并且易受系统限制,从而使得固态硬盘的测试结果产生偏差,继而影响性能测试结果的准确性等缺陷,提供一种SSD固态硬盘测试方法。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种SSD固态硬盘测试方法,包括以下步骤:

步骤S1:对SSD固态硬盘的抗压强度检测,并判定抗压强度检测是否合格;是,进入步骤S2;否,停止检测;

步骤S2:对SSD固态硬盘进行耐高温强度检测,并判定耐高温强度检测是否合格;是,待SSD固态硬盘冷却后返回步骤S1,重复上述步骤三次以上后,进入步骤S3;否,停止检测;

步骤S3:对高温状态下的SSD固态硬盘进行性能测试,判定SSD固态硬盘在高温下的各项性能是否正常;是,SSD固态硬盘高温性能测试,合格,进入步骤S4;否,SSD固态硬盘高温性能测试,不合格,检测结束;

步骤S4:对测试数据进行记录,作为同类型SSD固态硬盘高温性能测试参照,记录完成后,检测结束。

其中,步骤S1中的SSD固态硬盘的抗压强度检测包括以下步骤:

(1)将被测试的SSD固态硬盘转移至检测台上,并进行夹持固定,避免SSD固态硬盘在检测过程中发生晃动;

(2)初始化抗压强度检测设备,设定基准抗压值;

(3)启动抗压强度检测设备,并观测SSD固态硬盘在受压过程中是否弯曲或损坏;是,判定SSD固态硬盘的抗压强检测不合格,停止测试;否,判定SSD固态硬盘的抗压强检测合格。

作为本发明的进一步方案,所述步骤S2中的SSD固态硬盘进行耐高温强度检测包括以下步骤:

a、将抗压强检测合格的SSD固态硬盘转移至温控仓内;

b、对温控仓进行初始化,设定耐高温强度检测的基准温度值和基准温度下的检测时间;

c、启动温控仓,使温控仓内的温度达到设定的基准温度值,待完成基准温度下的检测时间后,将SSD固态硬盘取出,通电SSD固态硬盘是否能正常使用;是,耐高温强度检测,合格;否,耐高温强度检测,不合格。

作为本发明的进一步方案,所述步骤S3中的SSD固态硬盘进行性能测试的方法为轨迹型测试法,且轨迹型测试法,包括以下步骤:

①选择SSD固态硬盘性能测试的测试轨迹来源;

②对测试轨迹来源的测试参数进行设定,设定各测试项目的基准值;

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