[发明专利]一种NVMe SSD热插拔测试方法、系统、装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种NVMe SSD热插拔测试方法，其特征在于，包括：

获取插入的待测NVMe SSD的设备信息，得到初始信息；

对所述待测NVMe SSD进行热插拔测试，得到拔出测试信息和插入测试信息；

判断所述拔出测试信息和所述插入测试信息中的设备信息分别与所述初始信息中的设备信息是否一致；

拔出测试信息插入测试信息如果一致则重复对所述待测NVMe SSD进行热插拔测试并判断每次是否符合所述预期值，直至达到预设次数，通过测试拔出测试信息插入测试信息；

其中，所述对所述待测NVMe SSD进行热插拔测试的过程，包括：

发送硬盘拔出指令至所述热插拔插槽，以使所述热插拔插槽模拟所述待测NVMe SSD拔出的状态；

获取所述热插拔插槽上所述待测NVMe SSD的拔出测试信息；

发送硬盘插入指令至所述热插拔插槽，以使所述热插拔插槽模拟所述待测NVMe SSD插入的状态；

获取所述热插拔插槽上所述待测NVMe SSD的插入测试信息。

2.根据权利要求1所述的NVMe SSD热插拔测试方法，其特征在于，所述获取插入的待测NVMe SSD的设备信息，得到初始信息的过程，包括：

获取插入的待测NVMe SSD的设备信息和与所述待测NVMe SSD对应的热插拔插槽的插槽信息，得到所述初始信息；

所述判断所述拔出测试信息和所述插入测试信息中的设备信息分别与所述初始信息中的设备信息是否一致之前，还包括：

判断所述拔出测试信息与所述插入测试信息中的插槽信息是否符合预期值；

如果符合所述预期值，则判断所述拔出测试信息和所述插入测试信息中的设备信息分别与所述初始信息中的设备信息是否一致。

3.根据权利要求2所述的NVMe SSD热插拔测试方法，其特征在于，所述获取插入的待测NVMe SSD的设备信息和与所述待测NVMe SSD对应的热插拔插槽的插槽信息，得到初始信息的过程，包括：

通过lspci获取所有PCIE设备信息；

利用NVMe SSD的标识，从所有PCIE设备信息中筛选出待测NVMe SSD的设备信息和相应的热插拔插槽的插槽信息，得到所述初始信息。

4.根据权利要求3所述的NVMe SSD热插拔测试方法，其特征在于，所述发送硬盘拔出指令至所述热插拔插槽，以使所述热插拔插槽模拟所述待测NVMe SSD拔出的状态的过程，包括：

利用ipmitool工具通过BMC带外管理口发送ipmitoolremove命令至所述热插拔插槽，以使所述热插拔插槽模拟所述待测NVMe SSD拔出的状态。

5.根据权利要求4所述的NVMe SSD热插拔测试方法，其特征在于，所述发送硬盘插入指令至所述热插拔插槽，以使所述热插拔插槽模拟所述待测NVMe SSD插入的状态的过程，包括：

利用所述ipmitool工具通过所述BMC带外管理口发送ipmitoolinsert命令至所述热插拔插槽，以使所述热插拔插槽模拟所述待测NVMe SSD插入的状态。

6.根据权利要求2至5任一项所述的NVMe SSD热插拔测试方法，其特征在于，所述判断所述拔出测试信息与所述插入测试信息中的插槽信息是否符合预期值的过程，包括：

对比所述拔出测试信息与所述插入测试信息中的插槽信息变化是否符合预期值。