[发明专利]显示模组的缺陷检测方法及设备

说明书

本发明揭示了一种显示模组的缺陷检测方法及设备。所述方法包括以下步骤：获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片；通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。所述设备包括：承载装置、检测装置、缺陷定位装置，缺陷定位装置包括定位机构、图像获取机构；定位机构包括第一定位单元和第二定位单元，第一定位单元和第二定位单元均为热成像相机。本发明通过第二定位单元获取第一热成像图片和第二热成像图片，通过对比第一热成像图片和第二热成像图片可精确获取缺陷的位置信息。

技术领域

本发明涉及显示模组检测技术领域，特别涉及一种显示模组的缺陷检测方法及设备。

背景技术

触控屏等显示模组作为目前大部分电子设备的重要组成部件，在出厂前需要对未切割的显示模组进行电性缺陷测试，以确认显示模组的每一根电极自身是否开路以及相邻电极间是否短路。通过将多数个显示模组排布于基板上，再将基板置于检测装置上后，利用检测装置的压接导通装置实现显示模组与外部检测设备之间的电性导通，从而对显示模组进行检测。现有的检测方式中，显示模组检测出缺陷后，无法准确定位缺陷的位置，增加了后续针对缺陷位置进行分析和修补的难度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种准确定位缺陷位置信息的显示模组的缺陷检测方法和设备。

为实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供一种显示模组的缺陷检测方法，包括以下步骤：

获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片，通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间；

获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片，其中，所述第一热成像图片和所述第二热成像图片的覆盖范围为缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间的范围；

通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述“通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间”具体为：通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片的灰阶，确定第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片灰阶不相等的位置所在的区域，通过获取所述区域的坐标范围确定缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间；

所述“通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置信息”具体为：通过对比第一热成像图片和第二热成像图片的灰阶，确定第一热成像图片和第二热成像图片灰阶不相等的位置，通过获取所述位置的坐标确定缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在“获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片”之前还包括：对多个显示模组通电进行缺陷检测，确定显示模组是否存在缺陷。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在所述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”之前还包括：获取带有多个显示模组的基板的图像，根据基板上的定位标记建立坐标系；

所述缺陷的位置区间和位置信息基于所述坐标系。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在所述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”之前，所述方法还包括：

在基板上排列多个显示模组；

将基板放置于承载板，放置基板的过程中先使基板的中间区域与承载板接触，再使基板的边缘与承载板接触；

移动基板使基板的中心与承载板的中心对应；

将基板吸附于承载板；