[发明专利]颗粒均匀性评价方法、装置及设备

权利要求书

1.一种颗粒均匀性评价方法，其特征在于，所述方法包括：

根据待评价的颗粒材料确定颗粒模型，根据所述颗粒模型的边界和颗粒的粒径计算网格数据；

根据所计算的网格数据和所述颗粒的粒径对所述颗粒模型进行分割，确定分割的网格与颗粒的映射关系；

根据所述颗粒的粒径对应的累积百分比确定初始颗粒累积曲线；

确定所述颗粒模型对应的控制性网格，结合分割的网格与颗粒的映射关系，获取所述控制性网格对应的控制性网格的颗粒累积曲线；

根据所述初始颗粒累积曲线和所述控制性网格的颗粒累积曲线，确定所述待评价的颗粒的均匀性评价指标，根据所确定的均匀性评价指标，对颗粒材料进行分类使用。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述颗粒模型的边界和颗粒的粒径计算网格数据，包括：

根据公式：计算网格数据，其中：Row_Num为网格行数，Col_Num为网格列数，int为向下取整函数，R_max为最大颗粒的半径，x_min，x_max，y_min，y_max分别为颗粒区域的横坐标轴的左边界、横坐标轴的右边界、纵坐标轴的下边界以及纵坐标轴的上边界。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定分割的网格与颗粒的映射关系，包括：

根据公式确定网格与颗粒的映射关系，其中：

R_i为网格行数，C_i为网格列数，int为向下取整函数，R_max为最大颗粒，x_max，y_max均为计算区域的边界，x_i，y_i为颗粒i所在的x，y坐标。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述颗粒的粒径对应的累积百分比确定初始颗粒累积曲线，包括：

根据待评价的颗粒的粒径，确定颗粒累积曲线的粒径范围；

根据待评价的颗粒的粒径，以及粒径所对应的累积百分比确定初始颗粒累积曲线。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述颗粒模型对应的控制性网格，结合分割的网格与颗粒的映射关系，获取所述控制性网格对应的控制性网格的颗粒累积曲线，包括：

通过随机函数确定控制性网格；

根据网格与颗粒的映射关系，确定控制性网格中的颗粒的大小和数量；

根据所述网格中的颗粒的大小和数量对所述控制性网格进行筛选；

根据筛选后的控制性网格中的颗粒数据，确定控制性网格的颗粒累积曲线。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过随机函数确定控制性网格，包括：

通过公式确定控制性网格的位置，其中，h为控制性网格的边长，n为控制性网格边长大小控制数，且n＝(0.1·TotalParticles)^0.5，TotalParticles为颗粒总数，j、k为随机函数产生的随机数，X_L-D，Y_L-D为控制性网格的左下角的顶点坐标，X_R-U，Y_R-U为控制性网格的右上角的顶点坐标。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述初始颗粒累积曲线和所述控制性网格的颗粒累积曲线，确定所述待评价的颗粒的均匀性评价指标，包括：

在所述控制性网格的颗粒累积曲线中获取第一样本点集，确定所述样本点集对应的粒径；

根据所确定的粒径，在所述初始颗粒累积曲线中获取第二样本点集；

计算第一样本点集的总平方和TSS，以及第一样本点集与第二样本点集的残差平方和RSS；

根据所述总平方和TSS和残差平方和RSS，确定颗粒的均匀性评价指标