[发明专利]电池隔膜厚度测量方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种电池隔膜厚度测量方法，其特征在于，所述电池包括正极极片、隔膜以及负极极片，所述电池隔膜厚度测量方法包括：

确定电池中所述隔膜、正极极片及负极极片组成的待测单元；

获取所述待测单元中正极极片的厚度以及负极极片的厚度；

测量所述待测单元的厚度；

根据所述待测单元的厚度、正极极片的厚度、负极极片的厚度确定所述隔膜的厚度；

在所述确定隔膜、所述正极极片及负极极片组成的待测单元之后，所述方法还包括：

对所述待测单元之外且与所述待测单元相邻的极片及隔膜的位置进行调整，得到调整后的电池；

对所述调整后的电池进行压缩处理，得到压缩处理后的电池；

所述测量所述待测单元的厚度，包括：

确定所述压缩处理后的电池中的待测单元，并测量所述待测单元的厚度；

所述对所述待测单元之外且与所述待测单元相邻的极片及隔膜的位置进行调整，得到调整后的电池，包括：

确定所述待测单元最外侧极片的极性，所述极性包括正极极性和负极极性；

将所述待测单元之外且与所述待测单元相邻的隔膜调整为与所述最外侧极片极性相同的极片。

2.根据权利要求1所述的电池隔膜厚度测量方法，其特征在于，所述确定隔膜、所述正极极片及负极极片组成的待测单元，包括：

确定所述电池中的待测区域；

将所述待测区域中的所述隔膜、所述正极极片及负极极片组成所述待测单元。

3.根据权利要求1所述的电池隔膜厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述待测单元的厚度、正极极片的厚度、负极极片的厚度确定所述隔膜的厚度，包括：

获取所述待测单元内隔膜的数量；

将所述待测单元的厚度减去所有所述正极极片的厚度、所有所述负极的厚度，得到待测单元所有所述隔膜的厚度；

将所有所述隔膜的厚度除以所述待测单元内隔膜的数量，得到所述待测单元内每一所述隔膜的厚度。

4.根据权利要求1至3任一项所述的电池隔膜厚度测量方法，其特征在于，在每一所述待测单元中，所述隔膜的数量小于或等于五个。

5.一种电池隔膜厚度测量装置，其特征在于，所述电池包括正极极片、隔膜以及负极极片，所述电池隔膜厚度测量装置包括：

确定模块，用于确定电池中所述隔膜、正极极片及负极极片组成的待测单元；

获取模块，用于获取所述待测单元中正极极片的厚度以及负极极片的厚度；

测量模块，用于测量所述待测单元的厚度；

计算模块，用于根据所述待测单元的厚度、正极极片的厚度、负极极片的厚度确定所述隔膜的厚度；

所述测量装置还包括：

调整模块，用于对所述待测单元之外且与所述待测单元相邻的极片及隔膜的位置进行调整，得到调整后的电池；

所述调整模块具体用于：确定所述待测单元最外侧极片的极性，所述极性包括正极极性和负极极性；

将所述待测单元之外且与所述待测单元相邻的隔膜调整为与所述最外侧极片极性相同的极片。

6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行权利要求1至4任一项所述的电池隔膜厚度测量方法中的步骤。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储有可执行程序代码的存储器、与所述存储器耦合的处理器；

所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，执行如权利要求1至4任一项所述的电池隔膜厚度测量方法中的步骤。