[发明专利]基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法

说明书

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，包括以下步骤：1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行；5)通过上位机采集图谱数据与标准图谱数据进行对比，调节仪器电参数，校正靶面高度误差。该方法不但使样品靶的安装变得更加快捷，同时也减小后续频繁更换靶板带来的误差，保证仪器的分辨率和质量轴稳定性。

技术领域

本发明涉及质谱仪领域，尤其涉及基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法。

背景技术

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪(MALDI-TOFMS)是近年来发展起来的一种新型的软电离生物质谱，具有灵敏度高、准确度高和分辨率高等特点，为生命科学等领域提供了一种强有力的分析测试手段。MALDI-TOFMS主要由两部分组成：基质辅助激光解析离子源(MALDI)和飞行时间质量分析器(TOF)。基本原理是将样品分散在基质分子中并形成晶体。当用激光照射晶体时，基质从激光中吸收能量，样品解吸附，基质-样品之间发生电荷转移，导致样品被解析电离。电离的样品在电场作用下飞过真空的飞行管，根据到达检测器的飞行时间不同而被检测，即通过离子的质量电荷之比(M/Z)与离子的飞行时间成正比来分析离子，并测得样品分子的分子量。

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪使用二维移动平台进行多次采样控制，具有速度快、高效率的特点，但也对靶板的安装、调平提出了要求。靶板倾斜或是未至标准高度，均会对检测结果产生干扰。

发明内容

本发明的目的在于解决现有技术中的上述问题，提供基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，包括以下步骤：

1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；

2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；

3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；

4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行。

5)使用基质辅助激光解析飞行时间质谱仪采集靶板上的标准样品图谱数据；

6)使用上位机将步骤5)所采集的图谱数据与标准图谱数据对比，调节仪器电参数，校正后续采集数据。

所述可调悬臂可在水平面150°扇形范围内自由旋转。

所述千分表可在低于调平基准面16mm至30mm范围内测量。

所述调节螺钉设有三个，均布于靶板平台的底部。

在步骤4)中，三个调节螺钉的高度极差不大于0.003mm。

在步骤5)中，需在标准靶板上中心对称地取四个采样点进行采样操作。

所述千分表采用高精度数显千分表。

相对于现有技术，本发明技术方案取得的有益效果是：

本发明使得基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的靶板安装操作快捷、精确，解决后续换靶带来的误差，提高仪器的识别率。

附图说明

图1为本发明调平装置的结构示意图；