[发明专利]倒装深紫外LED及其制备方法有效
申请号: | 202110841199.0 | 申请日: | 2021-07-26 |
公开(公告)号: | CN113555479B | 公开(公告)日: | 2023-09-01 |
发明(设计)人: | 范谦;倪贤锋;曹荣兵;崔莹 | 申请(专利权)人: | 苏州汉骅半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/44;H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 倒装 深紫 led 及其 制备 方法 | ||
1.一种倒装深紫外LED,其特征在于,包括:
衬底,所述衬底上形成有依次堆叠的n型外延层、量子阱层和p型外延层;
粗化种层,所述粗化种层为多晶结构,所述粗化种层覆盖所述n型外延层、所述量子阱层和所述p型外延层和部分所述衬底的侧壁,所述粗化种层的材质为AlN;
粗化结构,所述粗化结构为不定晶向的粗化结构,所述粗化结构覆盖所述粗化种层;
p型欧姆接触,所述p型欧姆接触覆盖所述p型外延层表面,所述p型欧姆接触为不透明的金属或金属合金材质;
n型欧姆接触,所述n型欧姆接触贯穿所述p型外延层和所述量子阱层并与所述n型外延层电连接;
盖片层;以及
反射层,所述反射层与所述盖片层构成一容置空间,所述衬底、所述粗化种层、所述粗化结构、所述p型欧姆接触和所述n型欧姆接触位于所述容置空间内;
利用MOCVD工艺形成所述粗化结构。
2.根据权利要求1所述的倒装深紫外LED,其特征在于,所述倒装深紫外LED还包括:绝缘层,所述绝缘层位于所述n型欧姆接触与所述p型外延层、所述量子阱层和所述n型外延层之间。
3.根据权利要求1所述的倒装深紫外LED,其特征在于,利用ALD或者PVD工艺形成所述粗化种层。
4.根据权利要求3所述的倒装深紫外LED,其特征在于,所述粗化种层的厚度为5nm~200nm。
5.根据权利要求1所述的倒装深紫外LED,其特征在于,所述粗化结构的厚度为200nm~1000nm。
6.根据权利要求1所述的倒装深紫外LED,其特征在于,所述倒装深紫外LED还包括:外壳,所述外壳覆盖所述反射层。
7.根据权利要求6所述的倒装深紫外LED,其特征在于,所述外壳的材质包括:陶瓷。
8.根据权利要求1所述的倒装深紫外LED,其特征在于,所述反射层的材质为铝;所述盖片层的材质为蓝宝石或者石英石。
9.一种倒装深紫外LED的制备方法,其特征在于,包括:
提供一衬底,所述衬底上形成有依次堆叠的n型外延层、量子阱层、p型外延层和图形化的掩膜层;
刻蚀所述p型外延层、所述量子阱层、所述n型外延层和部分厚度的衬底以形成沟槽;
形成粗化种层,所述粗化种层为多晶结构,所述粗化种层覆盖所述沟槽的底壁和侧壁,所述粗化种层的材质为AlN;
形成粗化结构,所述粗化结构为不定晶向的粗化结构,所述粗化结构覆盖所述粗化种层;
利用所述掩膜层材料同氮化物半导体材料之间不同的物化特性,采用湿法刻蚀工艺,去除所述p型外延层表面的所述粗化结构、所述粗化种层以及所述掩膜层;
形成p型欧姆接触,所述p型欧姆接触覆盖所述p型外延层表面,所述p型欧姆接触为不透明的金属或金属合金材质;
形成n型欧姆接触,所述n型欧姆接触贯穿所述p型外延层和所述量子阱层并与所述n型外延层电连接;以及
形成盖片层和反射层,所述反射层与所述盖片层构成一容置空间,所述衬底、所述粗化种层、所述粗化结构、所述p型欧姆接触和所述n型欧姆接触位于所述容置空间内;
所述粗化结构形成方法包括:利用MOCVD工艺在所述粗化种层上继续生长粗化结构。
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