[发明专利]芯片状态检测方法和系统、电子设备及可读存储介质

说明书

本发明提供一种芯片状态检测方法和系统、电子设备及可读存储介质，其中所述方法包括：S1、在预设控制周期的任务中，将采用随机数产生方法产生的随机数发送给第二芯片，基于随机数，在第一芯片的第一应答表中读取到第一应答数；S2、当第二芯片收到随机数后，接收由第二芯片基于随机数、在第二芯片的第二应答表中读取到的第二应答数；S3、在下一个预设控制周期的任务中，比较第一应答数和接收到的第二应答数是否相同；S4、若相同，则将下一个预设控制周期作为预设控制周期并返回S1；S5、若不相同，则检测出第二芯片出错。本发明可以实现在引入多颗芯片以后，用其中的第一芯片来统筹管理整个控制器中其他芯片的运行状态。

技术领域

本发明涉及自动驾驶技术领域，尤其涉及一种芯片状态检测方法和系统、电子设备及可读存储介质。

背景技术

自动驾驶的控制器因为要应对多种传感器(激光雷达，摄像头和毫米波雷达)信号的输入，解析和计算，单芯片无法达到算力的要求，因此，往往会在自动驾驶控制器内部配置多颗芯片，用来进行算力的分配。按照以往的单芯片控制器，只要在单颗芯片内部内置状态检测机制就可以简单地获取芯片的运行状态。但是，在引入多颗芯片以后，如何用主芯片来统筹的管理整个控制器中多个芯片的运行状态，成为一个新的问题。

常用从芯片功能架构如下：应用层软件用以完成自动驾驶相关的逻辑运算，如原始的感知结果输入，数据的处理，控制逻辑运算等。应用层软件监控模块负责监控应用层软件的输出。软件运行和硬件设备监控层负责监控单元的自诊断、硬件环境的检测、软件运行状态监控等。主芯片作为两个从芯片的后续工作芯片，以主芯片的身份存在。在主芯片或从芯片进行后续工作前，需要知道从主芯片或从芯片传送过来的信号是否存在问题。传统的做法是主芯片或从芯片的供应商会在主芯片或从芯片的底层软件做相应的自检机制，并将状态实时地存入状态寄存器，供主芯片或从芯片进行读取。但是因为国内外芯片供应商良莠不齐，并且主芯片或从芯片的供应商不会开放主芯片或从芯片的自检机制，此处就存在浑水摸鱼的可能性，而且即使状态寄存器也存在失效的可能性，有可能会导致主芯片或从芯片已经处于失效的状态，但是状态寄存器存储的运行状态依然为良好。

发明内容

本发明提供一种芯片状态检测方法和系统、电子设备及可读存储介质，用以解决现有技术中存在的技术缺陷。

本发明提供一种芯片状态检测方法，包括：

S1、在预设控制周期的任务中，将采用随机数产生方法产生的随机数发送给第二芯片，基于所述随机数，在第一芯片的第一应答表中读取到第一应答数；

S2、接收由所述第二芯片基于所述随机数、在第二芯片的第二应答表中读取到的第二应答数；其中，所述第二应答表与第一应答表采用内容相同的预设应答表；

S3、在下一个预设控制周期的任务中，比较所述第一应答数和接收到的第二应答数是否相同；

S4、若相同，则将下一个预设控制周期作为预设控制周期并返回所述S1；

S5、若不相同，则检测出所述第二芯片出错。

根据本发明所述的芯片状态检测方法，所述将采用随机数产生方法产生的随机数发送给第二芯片，包括：

调用所述第一芯片内置的时间获取函数，将时间获取函数所获取的系统时间对应的数值定为随机数初始值；

用所述随机数初始值对所述第一应答表的表长取余，将余数作为最终的随机数；

将所述随机数发送给第二芯片。

根据本发明所述的芯片状态检测方法，所述采用随机数产生方法产生的随机数不大于所述第一应答表的表长。

根据本发明所述的芯片状态检测方法，所述在第一芯片的第一应答表中读取到第一应答数以及在第二芯片的第二应答表中读取到第二应答数均采用读取应答数方法实现，所述读取应答数方法包括：