[发明专利]一种六氟化硫密度继电器校验仪p20 在审
| 申请号： | 202110851706.9 | 申请日： | 2021-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN113466084A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 杨海燕;王志浩;李哲毓;张倩;赵蒙;关建航;韦宣;瞿丽莉 | 申请（专利权）人： | 西安热工研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N9/00 | 分类号： | G01N9/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 闵岳峰 |
| 地址： | 710048 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 六氟化硫 密度 继电器 校验 base sub 20 | ||
1.一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值和温度示值进行检测，压力示值和温度示值均满足要求后，进行p20示值误差的检测；
2)对六氟化硫密度继电器校验仪的p20示值误差进行检测，p20示值误差必须满足其准确度等级的要求。
2.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，压力示值满足其准确度等级的要求。
3.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，温度示值满足工业铂电阻的要求。
4.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，温度示值满足校验仪准确度等级的要求。
5.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，压力示值的具体实现方法如下：
101)用压力标准器对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值进行检测；
102)压力示值误差如若超过其准确度等级的要求，利用压力标准器对其压力示值进行校准，使其压力示值在最佳状态；
103)再次用压力标准器对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值进行检测，压力示值满足其准确度等级要求后方可进行p20示值误差检测。
6.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)温度示值的具体实现方法如下：
101)用二等标准铂电阻温度计和低温恒温槽对六氟化硫密度继电器校验仪的温度示值进行检测；
102)温度示值误差如若超过工业铂电阻和校验仪准确度等级的综合要求，利用二等标准铂电阻温度计对其温度示值进行校准，使其温度示值在最佳状态；
103)再次用二等标准铂电阻温度计和低温恒温槽对六氟化硫密度继电器校验仪的温度示值进行检测，温度示值满足铂电阻和校验仪准确度等级的综合要求后方可进行p20示值误差检测。
7.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，步骤2)的具体实现方法如下：
201)校验仪的测试口与压力标准器连接；
202)校验仪温度传感器与二等标准铂电阻温度计均插入低温恒温槽工作介质内；
203)按预先选定的压力点和温度点，用压力标准器和温度标准器同时给出对应量值，检测不同压力和温度下六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差。
8.根据权利要求7所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法，其特征在于，温度传感器采用A级工业铂电阻。
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