[发明专利]半导体激光透射系统在审

专利信息
申请号: 202110853620.X 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113588604A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 侯柳;褚进华;胡平;刘伟;王华;丁君鸿;奚松勤;矫健;诸葛杰;缪琛彪;何杰 申请(专利权)人: 中国气象局上海物资管理处;杭州佐格通信设备有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01N21/01
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 盛影影
地址: 200336 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 半导体 激光 透射 系统
【说明书】:

本发明公开了半导体激光透射系统,涉及能见度测量系统技术领域,包括方舱体;激光透射器,激光透射器包括发射器和接收器,发射器位于方舱体的一端,接收器位于方舱体的另一端;信号调节组件,信号调节组件与发射器和接收器均连接;信号处理组件,信号处理组件和信号调节组件连接;减震组件,减震组件位于方舱体底部。本发明的技术效果在于它的能见度测量精度高。

技术领域

本发明涉及能见度测量系统技术领域,具体涉及半导体激光透射系统。

背景技术

能见度测量系统是一种用于测量环境的能见度的系统,其中,能见度测量设备是能见度测量系统的重要组成部分,常见的能见度测量设备有透射式能见度测量仪和前散能见度测量仪,相关的能见度测量设备易受到外界背景光的干扰,导致能见度的测量精度不高。

中国发明专利,公开号:CN102879359A,公开日:2013.01.16,公开了一种大气能见度测量系统,激光光源经过高频调制,并在探测器前端安装了滤光片,提高了系统抗背景光、杂散光影响的能力,其不足之处在于,测量系统的稳定性差,在发生震动时,能见度的测量精度不高。

发明内容

1、发明要解决的技术问题

针对能见度测量系统的测量精度低的技术问题,本发明提供了半导体激光透射系统,它的能见度测量精度高。

2、技术方案

为解决上述问题,本发明提供的技术方案为:

半导体激光透射系统,包括:

方舱体;

激光透射器,所述激光透射器包括发射器和接收器,所述发射器位于所述方舱体的一端,所述接收器位于所述方舱体的另一端;

信号调节组件,所述信号调节组件与所述发射器和所述接收器均连接;

信号处理组件,所述信号处理组件和所述信号调节组件连接;

减震组件,所述减震组件位于所述方舱体底部。

可选的,所述减震组件包括支撑架,所述支撑架两端均设有凸起一,所述支撑架中间均布有若干凸起二,所述方舱体位于所述凸起二顶部,所述凸起一顶部设有盖板组件,所述盖板组件和所述方舱体连接,所述凸起一和所述盖板组件之间设有缓冲组件。

可选的,所述缓冲组件为泡沫塑料或橡胶。

可选的,所述方舱体底部设有若干底脚,所述底脚远离所述方舱体的一端和所述凸起二接触。

可选的,所述盖板组件包括框架和盖板一,所述框架一端和所述方舱体连接,所述框架另一端和所述盖板一连接,所述框架内设有盖板二,所述盖板一位于所述缓冲组件顶部。

可选的,所述发射器为半导体激光器。

可选的,所述接收器处设有滤光片。

可选的,所述信号调节组件包括调制单元,所述调制单元的一端和所述发射器连接,所述调制单元的另一端和所述信号处理组件连接。

可选的,所述信号调节组件还包括APC控制单元,所述APC控制单元的一端和所述发射器连接,所述APC控制单元的另一端和所述调制单元连接。

可选的,还包括凸透镜组件,所述凸透镜组件包括凸透镜一和凸透镜二,所述凸透镜一位于所述发射器处,所述凸透镜二位于所述接收器处。

3、有益效果

采用本发明提供的技术方案,与现有技术相比,具有如下有益效果:它的能见度测量精度高。

附图说明

图1为本发明实施例提出的半导体激光透射系统的结构示意图;

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