[发明专利]一种集成电路测试板

权利要求书

1.一种集成电路测试板，其特征在于：其结构包括托盘(1)、顶盖(2)、套槽(3)、旋转把手(4)、底座(5)，所述托盘(1)上设置有套槽(3)，且通过旋转把手(4)转动配合在底座(5)上，所述顶盖(2)安装在套槽(3)上，所述套槽(3)包括架体(31)、推座(32)、夹具(33)、纠偏组件(34)、扣齿(35)，所述架体(31)通过旋转把手(4)与夹具(33)间接配合，且连接有推座(32)，所述推座(32)连接有扣齿(35)，所述扣齿(35)与纠偏组件(34)间接配合。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述纠偏组件(34)包括开合套(341)、拉举结构(342)、测试框(343)、调节格(344)、侧夹装置(345)，所述开合套(341)连接在调节格(344)上，所述调节格(344)通过拉举结构(342)间接配合在扣齿(35)上，且连接有测试框(343)。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述测试框(343)与调节格(344)之间过渡配合有拉举结构(342)。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述拉举结构(342)包括压制轨(2a1)、侧翼(2a2)、分叉(2a3)、制衡盘(2a4)、纳锉(2a5)，所述压制轨(2a1)一端连接在制衡盘(2a4)上，另一端设置有纳锉(2a5)，所述制衡盘(2a4)滑动配合在测试框(343)内，且连接有侧翼(2a2)，所述侧翼(2a2)通过分叉(2a3)活动卡合在压制轨(2a1)之间。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述纳锉(2a5)包括滚珠(a51)、联动带(a52)、隔板(a53)、摆叶(a54)，所述滚珠(a51)连接在有摆叶(a54)，所述摆叶(a54)通过联动带(a52)套接连接在压制轨(2a1)上，所述联动带(a52)之间活动卡合有隔板(a53)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述隔板(a53)间接配合在侧夹装置(345)上。

7.根据权利要求2所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述侧夹装置(345)包括磨合斗(5b1)、牵平件(5b2)、顶出杆(5b3)、转轴(5b4)、承接角(5b5)、固定把(5b6)，所述磨合斗(5b1)通过固定把(5b6)转动配合在扣齿(35)上，且连接有承接角(5b5)，所述承接角(5b5)活动卡合在开合套(341)上，所述固定把(5b6)上连接有转轴(5b4)，所述转轴(5b4)通过顶出杆(5b3)间接配合在牵平件(5b2)上。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述牵平件(5b2)包括拉杆(b21)、限位块(b22)、弹簧(b23)、护板(b24)，所述拉杆(b21)通过弹簧(b23)滑动配合在承接角(5b5)之间，且连接在护板(b24)上，所述护板(b24)上连接有限位块(b22)，所述限位块(b22)与滚珠(a51)过渡配合。