[发明专利]提高码率计算效率的电路设计方法、装置、设备及介质有效
申请号: | 202110860621.7 | 申请日: | 2021-07-29 |
公开(公告)号: | CN113315968B | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 张鹏;胡文强;向国庆;严韫瑶;宋磊 | 申请(专利权)人: | 杭州博雅鸿图视频技术有限公司 |
主分类号: | H04N19/119 | 分类号: | H04N19/119;H04N19/147;H04N19/70 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 付婧 |
地址: | 310013 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 计算 效率 电路设计 方法 装置 设备 介质 | ||
1.一种提高码率计算效率的电路设计方法,其特征在于,包括:
获取率失真优化中的语法元素,将所述语法元素分为残差系数信息以及头信息两种类别;
若所述残差系数信息为大于等于预设阈值的编码单元,则根据预设的流水线设计方案计算二值化后的bin串数值之和,包括:将一维残差系数信息转化成二维残差系数信息;通过阶梯型数据扫描方式读取所述二维残差系数信息中左上角的数据;在第一周期内,计算第一斜列的残差系数值以及游程长度值;在第二周期内,对所述第一斜列的残差系数值以及游程长度值进行二值化,统计二值化后的bin串数值之和,以及计算第二斜列的残差系数值以及游程长度值;在第三周期内,对所述第二斜列的残差系数值以及游程长度值进行二值化,统计二值化后的bin串数值之和,以及计算第三斜列的残差系数值以及游程长度值;重复执行上述步骤,直到所述二维残差系数信息中左上角的全部斜列数据计算完;
若所述残差系数信息为小于预设阈值的编码单元,则根据预设的串行方案计算二值化后的bin串数值之和;
根据预设的串行方案计算头信息二值化后的bin串数值之和,其中,所述预设的串行方案包括采用Zig-zag的数据扫描方式读取全部数据,并且采用串行方式依次计算;
累加两类信息的bin串数值之和,根据累加的bin串数值之和以及预设的码率估计模型进行码率计算。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述头信息为除去残差系数信息以外的其他语法元素信息。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述码率估计模型如下所示:
其中,Rate表示估计的码率,Bin表示累加的二值化后的bin串数值之和,α、β表示模型的参数。
4.一种提高码率计算效率的电路设计装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取率失真优化中的语法元素,将所述语法元素分为残差系数信息以及头信息两种类别;
第一计算模块,用于若所述残差系数信息为大于等于预设阈值的编码单元,则根据预设的流水线设计方案计算二值化后的bin串数值之和,包括:将一维残差系数信息转化成二维残差系数信息;通过阶梯型数据扫描方式读取所述二维残差系数信息中左上角的数据;在第一周期内,计算第一斜列的残差系数值以及游程长度值;在第二周期内,对所述第一斜列的残差系数值以及游程长度值进行二值化,统计二值化后的bin串数值之和,以及计算第二斜列的残差系数值以及游程长度值;在第三周期内,对所述第二斜列的残差系数值以及游程长度值进行二值化,统计二值化后的bin串数值之和,以及计算第三斜列的残差系数值以及游程长度值;重复执行上述步骤,直到所述二维残差系数信息中左上角的全部斜列数据计算完;若所述残差系数信息为小于预设阈值的编码单元,则根据预设的串行方案计算二值化后的bin串数值之和;
第二计算模块,用于根据预设的串行方案计算头信息二值化后的bin串数值之和,其中,所述预设的串行方案包括采用Zig-zag的数据扫描方式全部扫描,并且采用串行方式依次计算;
第三计算模块,用于累加两类信息的bin串数值之和,根据累加的bin串数值之和以及预设的码率估计模型进行码率计算。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述头信息为除去残差系数信息以外的其他语法元素信息。
6.一种提高码率计算效率的电路设计设备,其特征在于,包括处理器和存储有程序指令的存储器,所述处理器被配置为在执行所述程序指令时,执行如权利要求1至3任一项所述的提高码率计算效率的电路设计方法。
7.一种计算机可读介质,其特征在于,其上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令可被处理器执行以实现如权利要求1至3任一项所述的一种提高码率计算效率的电路设计方法。
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