[发明专利]分合闸状态的识别方法、装置、电子装置和存储介质

权利要求书

1.一种分合闸状态的识别方法，其特征在于，所述方法包括：

对待测图像中的待测分合闸进行检测，生成目标图像；

对所述目标图像进行投影处理，得到所述待测分合闸的投影分量分布特征；

将所述投影分量分布特征与标准分量分布特征进行匹配，根据匹配结果生成所述待测分合闸的状态识别结果；所述标准分量分布特征是预先对预设的参考图像进行投影处理得到的。

2.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述对所述目标图像进行投影处理，得到所述待测分合闸的投影分量分布特征包括：

根据所述目标图像的每行像素点进行统计得到投影水平分量分布特征，并根据所述目标图像的每列像素点进行统计得到投影垂直分量分布特征；其中，所述投影水平分量分布特征和所述投影垂直分量分布特征组成所述投影分量分布特征。

3.根据权利要求2所述的识别方法，其特征在于，所述标准分量分布特征包括标准水平分量分布特征和标准垂直分量分布特征，所述将所述投影分量分布特征与所述标准分量分布特征进行匹配包括：

将所述投影水平分量分布特征与所述标准水平分量分布特征进行匹配，并将所述投影垂直分量分布特征与所述标准垂直分量分布特征进行匹配，得到所述匹配结果。

4.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述将所述投影分量分布特征与标准分量分布特征进行匹配，根据匹配结果生成所述待测分合闸的状态识别结果，包括：

确定所述投影分量分布特征与所述标准分量分布特征的特征相似度；

基于所述特征相似度，确定所述待测分合闸的状态识别结果。

5.根据权利要求4所述的识别方法，其特征在于，所述标准分量分布特征包括至少两个子标准分量分布特征，其中，不同子标准分量分布特征映射的分合闸状态不同；

所述确定所述投影分量分布特征与所述标准分量分布特征的特征相似度，包括：

分别确定所述至少两个子标准分量分布特征中各个子标准分量分布特征对应的子特征相似度，所述子特征相似度是基于对应的子标准分量分布特征和所述投影分量分布特征的相似度确定的；

所述基于所述特征相似度，确定所述待测分合闸的状态识别结果，包括：

确定所述各个子标准分量分布特征对应的子特征相似度的最大值；

将所述最大值对应子标准分量分布特征映射的分合闸状态，确定为所述待测分合闸的状态。

6.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述根据所述待测图像生成目标图像包括：

根据所述待测图像获取第一目标区域；其中，所述待测分合闸位于所述第一目标区域内；

针对所述第一目标区域进行提取轮廓处理以获取第二目标区域，并针对所述第二目标区域进行裁剪处理以获取第三目标区域；

获取预设尺寸，并根据所述预设尺寸对所述第三目标区域进行归一化处理，得到所述目标图像。

7.根据权利要求6所述的识别方法，其特征在于，所述根据所述待测图像获取第一目标区域包括：

获取含有预设分合闸的模板图像，并对所述模板图像进行检测以获取所述预设分合闸的特征结果，将所述特征结果和所述待测图像进行对比，得到所述第一目标区域；或者，

利用目标检测技术，根据所述待测图像得到所述第一目标区域。

8.根据权利要求6所述的识别方法，其特征在于，获取所述标准分量分布特征包括：

对历史图像中的分合闸进行检测生成所述参考图像，并针对所述参考图像包括的分合闸进行投影处理以获取所述标准分量分布特征；或者，

基于预先绘制生成的分合字符生成所述参考图像，并针对所述参考图像包括的所述分合字符进行投影处理以获取所述标准分量分布特征；

其中，所述参考图像的尺寸为所述预设尺寸。