[发明专利]正交轴系统的正交性的测量方法

权利要求书

1.一种正交轴系统的正交性的测量方法，是仪器的正交轴系统的正交性的测量方法，所述仪器包括具有第一旋转轴的第一旋转装置和设置于所述第一旋转装置并具有第二旋转轴的第二旋转装置，所述第二旋转装置能够绕着所述第一旋转装置旋转，所述正交轴系统由所述第一旋转轴和所述第二旋转轴构成，其特征在于，所述测量方法包括：将所述仪器置于承载面，所述承载面的平面度小于第一预设阈值；使所述第一旋转轴与所述承载面的垂直度小于第二预设阈值；沿着截取面截取所述第二旋转轴以获得所述第二旋转轴的第一虚拟截面，所述截取面经过所述承载面的特定点且与所述承载面以及所述第二旋转轴在所述承载面的投影正交，对所述第一虚拟截面进行测量以获得所述第一虚拟截面的几何中心作为第一位置；旋转所述第二旋转装置以使所述第二旋转轴旋转预设角度，所述预设角度为180°的奇数倍，并使用所述截取面截取所述第二旋转轴以获得所述第二旋转轴的第二虚拟截面，对所述第二虚拟截面进行测量以获得所述第二虚拟截面的几何中心作为第二位置；并且基于所述第一位置和所述第二位置判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性是否符合要求。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，通过测量位于所述第一虚拟截面的边缘的多个第一测量点的空间坐标并基于所述多个第一测量点的空间坐标来获得所述第一位置；通过测量位于所述第二虚拟截面的边缘的多个第二测量点的空间坐标并基于所述多个第二测量点的空间坐标来获得所述第二位置。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述多个第一测量点位于所述第一虚拟截面的外周，所述多个第二测量点位于所述第二虚拟截面的外周，所述第一测量点的个数不少于5个，所述第二测量点的个数不少于5个。

4.根据权利要求1或2所述的测量方法，其特征在于，令所述第一位置和所述第二位置之间的距离为第一距离，基于所述第一距离判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性是否符合要求。

5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于，若所述第一距离小于预设值，则判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性符合要求，若所述第一距离不小于所述预设值，则判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性不符合要求，所述预设值与所述特定点相关。

6.根据权利要求1或2所述的测量方法，其特征在于，获得所述第一旋转轴的轴线上的任意点的空间坐标作为第三位置，令所述第一位置和所述第二位置之间的距离为第一距离，所述第三位置到所述截取面的距离为第二距离，基于所述第一距离和所述第二距离获得错配角，若所述错配角小于预设角，则判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性符合要求，若所述错配角不小于预设角，则判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性不符合要求。

7.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述第一虚拟截面和所述第二虚拟截面均为椭圆形，或者所述第一虚拟截面和所述第二虚拟截面均为圆形。

8.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，在获得所述第一虚拟截面之前，测量所述第二旋转轴的径向圆跳动。

9.根据权利要求8所述的测量方法，其特征在于，若所述径向圆跳动大于第三预设阈值时，则对所述第二旋转轴进行加工以使所述第二旋转轴的径向圆跳动不大于所述第三预设阈值。

10.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述特定点位于所述投影内。