[发明专利]水冷老化设备控制系统在审
申请号: | 202110865257.3 | 申请日: | 2021-07-29 |
公开(公告)号: | CN113533890A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 顾亚;杨谦;裴家林;刘烨 | 申请(专利权)人: | 深圳市禹龙通电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G05D23/19 |
代理公司: | 深圳冀深知识产权代理有限公司 44597 | 代理人: | 蔡鹏娟 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 水冷 老化 设备 控制系统 | ||
本发明提供一种水冷老化设备控制系统,包括多个测试单元;测试单元包括多个测试模块;测试模块包括用于放置测试产品的独立的水冷散热块、用于检测水冷散热块的温度的温度传感器、温度控制器、用于调节流入水冷散热块的水流量大小的调水电机、PLC控制器和用于为测试产品供电的考核电源;PLC控制器分别与温度控制器、调水电机和考核电源连接;温度控制器用于根据温度传感器发送的温度向PLC控制器发送温度相关信号;PLC控制器用于根据接收到的信号控制调水电机旋转或不动,或进行报警。本发明可以实现测试产品的自动温度控制,保证测试产品在预设温度范围内进行老化,本发明实施例可以提高效率,能够实现对温度的准确控制。
技术领域
本发明涉及电子产品测试技术领域,尤其涉及一种水冷老化设备控制系统。
背景技术
为了检验和提高电源、电阻、芯片、变频器、电控元件、灯具等电子产品的可靠性、稳定性以及安全性,对电子产品进行老化测试已经成为生产制造过程中的一个重要环节。老化测试是指仿真出一种高温、高恶劣条件下的测试环境对高性能电子产品进行长时间烧机,以提高产品安全性、稳定性和可靠性的生产工艺流程。
目前,对电子产品进行老化考核时,通常通过人工对温度等进行控制,然而,这种方法效率低且对温度的控制准确度较低。
发明内容
本发明实施例提供了一种水冷老化设备控制系统,以解决效率低且对温度和时间的控制准确度较低的问题。
本发明实施例提供了一种水冷老化设备控制系统,包括老化架和多个测试单元;老化架设有多个测试分区,多个测试单元一一对应分设于各测试分区;每个测试单元包括多个测试模块;
测试模块包括用于放置测试产品的独立的水冷散热块、用于检测水冷散热块的温度的温度传感器、温度控制器、用于调节流入水冷散热块的水流量大小的调水电机、PLC控制器和用于为测试产品供电的考核电源;
PLC控制器分别与温度控制器、调水电机和考核电源连接,温度控制器与温度传感器连接;
温度控制器用于接收温度传感器检测的温度,并在温度小于第一预设温度时,向PLC控制器发送温度过低信号,在温度大于第二预设温度且小于第三预设温度时,向PLC控制器发送温度过高信号,在温度不小于第三预设温度时,向PLC控制器发送超温报警信号,在温度不小于第一预设温度且不大于第二预设温度时,向PLC控制器发送温度正常信号;
PLC控制器用于在接收到温度过低信号时,控制调水电机向水流量减小的方向旋转预设角度,以减小流入水冷散热块的水流量;在接收到温度过高信号时,控制调水电机向水流量增大的方向旋转预设角度,以增大流入水冷散热块的水流量;在接收到温度正常信号时,控制调水电机不动;在接收到超温报警信号时,控制考核电源断电,并进行报警。
在一种可能的实现方式中,测试单元还包括时间控制器;
时间控制器,与PLC控制器连接,用于在开始进行老化测试时,向PLC控制器发送开始考核信号,同时开始第一计时和第二计时,并重复执行在第一计时的时长达到第一预设循环时长时,向PLC控制器发送停止考核信号,同时重新开始第一计时,在重新开始的第一计时的时长达到第二预设循环时长时,向PLC控制器发送开始考核信号,同时重新开始第一计时的步骤,直至第二计时的时长达到预设总时长,向PLC控制器发送停止考核信号;
PLC控制器,还用于在接收到开始考核信号后,执行在接收到温度过低信号时,控制调水电机向水流量减小的方向旋转预设角度,以减小流入水冷散热块的水流量;在接收到温度过高信号时,控制调水电机向水流量增大的方向旋转预设角度,以增大流入水冷散热块的水流量;在接收到温度正常信号时,控制调水电机不动;在接收到超温报警信号时,控制考核电源断电,并进行报警的步骤;在接收到停止考核信号时,控制考核电源断电,并停止向调水电机发送任何信号。
在一种可能的实现方式中,水冷老化设备控制系统还包括冷水机;
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