[发明专利]点对匹配方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110866180.1 申请日: 2021-07-29
公开(公告)号: CN113591977A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 张哲思;谢强 申请(专利权)人: 武汉联影智融医疗科技有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;A61B34/20
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 范丽霞
地址: 430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 匹配 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种点对匹配方法,其特征在于,包括:

获取对应于第一坐标系的模板文件;所述模板文件包括基于第一坐标系中标记点的几何特征得到的初始特征描述集;

基于第二坐标系中目标点的几何特征构建所述目标点对应的目标特征描述集;

根据所述初始特征描述集和所述目标特征描述集对所述标记点与所述目标点进行相似性计算,根据相似性计算结果进行点对匹配。

2.根据权利要求1所述的点对匹配方法,其特征在于,初始特征描述集和所述目标特征描述集包括以下至少之一:

点与点之间的距离集合;

点与点之间的角度集合;

点与点之间所呈三角面片向量集合。

3.根据权利要求1所述的点对匹配方法,其特征在于,所述获取对应于第一坐标系的模板文件包括:

获取第一坐标系中所有标记点的坐标信息;

根据各个标记点的坐标信息计算每个坐标点对应的几何特征,将每个标记点的几何特征确定为对应标记点的初始特征描述集;

根据第一坐标系所有标记点的特征描述集,确定对应于第一坐标系的模板文件。

4.根据权利要求1所述的点对匹配方法,其特征在于,根据所述初始特征描述集和所述目标特征描述集对所述标记点与所述目标点进行相似性计算,根据相似性计算结果进行点对匹配包括:

根据所述初始特征描述集获取对应于第一坐标系中的所有标记点的几何特征;

根据所述目标特征描述集获取对应于所述第二坐标系中的目标点的几何特征;

将所有标记点的几何特征与目标点的几何特征进行两两相似性计算,得到相似性计算结果;

将相似性最大值对应的第一坐标系中的标记点,确定为所述目标点对应的特征匹配点。

5.根据权利要求2所述的点对匹配方法,其特征在于,所述初始特征描述集和所述目标特征描述集包括点与点之间的距离集合,则根据所述初始特征描述集和所述目标特征描述集对所述标记点与所述目标点进行相似性计算,根据相似性计算结果进行点对匹配包括:

根据所述第一坐标系对应的初始特征描述集获取任一标记点的距离集合;所述距离集合包括任一标记点与其他标记点之间的两两距离;

根据所述第二坐标系对应的目标特征描述集获取目标点的距离集合;

将所述标记点的距离集合与目标点的距离集合作差,得到所述标记点对应的距离差值;

循环执行上述步骤得到第一坐标系中所有标记点的差值集合;

将所述差值集合中最小差值对应的标记点确定为所述目标点对应的特征匹配点。

6.根据权利要求1所述的点对匹配方法,其特征在于,根据相似性计算结果进行点对匹配之前,还包括:

获取相似性计算结果;

将第一坐标系中相似性值小于第一相似性阈值的标记点进行滤除。

7.根据权利要求1所述的点对匹配方法,其特征在于,根据相似性计算结果进行点对匹配之后,还包括:

根据所述相似性计算结果对第一坐标系中的标记点进行相似性排序;

将第一坐标系中相似性值小于第二相似性阈值的标记点,确定为移位过大的标记点。

8.一种点对匹配装置,其特征在于,包括:

模板文件获取单元,用于获取对应于第一坐标系的模板文件;所述模板文件包括基于第一坐标系中标记点的几何特征得到的初始特征描述集;

目标特征描述集构建单元,用于基于第二坐标系中目标点的几何特征构建所述目标点对应的目标特征描述集;

点对匹配单元,用于根据所述初始特征描述集和所述目标特征描述集对所述标记点与所述目标点进行相似性计算,根据相似性计算结果进行点对匹配。

9.一种电子设备,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至7中任一项所述的点对匹配方法。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的点对匹配方法的步骤。

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