[发明专利]基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法

权利要求书

1.基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，包括以下步骤：

步骤S1：激光器发出的激光束经过激光稳功率系统后形成稳定性由于0.05％的激光，所述激光经过调制后，分别由硅陷阱探测器和高温辐射计接收；

步骤S2：数值处理器采集硅陷阱探测器的电压输出值和高温辐射计的输出功率值；

步骤S3：分析系统比对硅陷阱探测器的电压输出值和高温辐射计的输出功率值，得到硅陷阱探测器光谱响应度。

2.根据权利要求1所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：所述钢包辐射量测量装置包括钢包、聚焦透镜、滤光辐射计、数值处理器和分析系统；钢包发出的光谱辐射通量经聚焦透镜后，进入滤光辐射计，滤光辐射计的探测器光敏面位于聚焦透镜的像面上，滤光辐射计输出信号由数值处理器采集，并由分析系统计算得到钢包的有效发射率。

3.根据权利要求1所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：步骤S1中所述激光采用光纤传输，且在超声浴中虑噪。

4.根据权利要求1所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：步骤S2中分析系统比较滤光辐射计和热释电探测器的探测信号值，比对插值得到滤光辐射计在其余波长下的响应值，从而得到滤光辐射计的绝对光谱响应度。

5.根据权利要求1所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：钢包发出的光谱辐射通量经聚焦透镜后，进入滤光辐射计，滤光辐射计的探测器光敏面位于聚焦透镜的像面上，滤光辐射计输出信号由数值处理器采集，并由分析系统计算得到钢包的有效发射率。

6.根据权利要求1所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：所述激光稳功率系统包括第一偏振片、电光晶体、第二偏振片、显微物镜、第一可变光阑、准直物镜、第二可变光阑、楔形分束镜、监视探测器和伺服放大系统。

7.根据权利要求6所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：进入激光稳功率系统的激光束首先经过第一偏振片起偏，然后经过电光晶体和第二偏振片，使激光为电矢量垂直于台面的线偏振光。

8.根据权利要求7所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：由显微物镜聚焦并通过第一可变光阑产生一个针孔衍射光斑，由准直物镜对光束进行准直，通过第二可变光阑选择衍射的中心亮环。

9.根据权利要求8所述的基于有效发射率校正的钢包温度场测量方法，其特征在于：通过楔形分束镜将一部分激光作为监控光束提供给监视探测器，监视探测器的输出信号作为伺服放大系统的参考信号，伺服放大系统驱动电光晶体，使电光晶体的透过率发生变化，达到稳定功率的作用。