[发明专利]卷绕电芯的质量评估方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种卷绕电芯的质量评估方法，其特征在于，所述方法包括：

在形成所述卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，所述第一相对位置关系用于指示在目标方向上所述目标极耳与所述标志物的相对距离，所述标志物贴附于所述目标极耳上；

当确定形成所述卷绕电芯并将所述卷绕电芯压成方形时，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，所述第二相对位置关系用于指示在所述目标方向上所述极耳组与所述标志物的相对距离；

基于所述第一相对位置关系与所述第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

若所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值，则确定所述卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系包括：

测量所述目标极耳的第一侧边与所述标志物的第一侧边之间的第一距离，以及所述目标极耳的第二侧边与所述标志物的第二侧边之间的第二距离，获得所述第一相对位置关系。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系包括：

测量所述极耳组的第一侧边与所述标志物的所述第一侧边之间的第三距离，以及所述极耳组的第二侧边与所述标志物的所述第二侧边之间的第四距离，获得所述第二相对位置关系。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述标志物沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述中轴线方向与所述目标方向相互垂直，基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量包括：

计算所述第一距离与所述第三距离的差值，获得所述第一错位量；

计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述标志物未沿所述目标极耳的中轴线方向对称，基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量包括：

计算所述第一距离与所述第三距离的和，获得所述第一错位量；

计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标极耳为所述至少一个极耳中的首极耳。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述标志物为预先已贴附于所述首极耳的保护胶。

8.一种卷绕电芯的质量评估装置，其特征在于，所述装置包括：

第一测量单元，用于在形成所述卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，所述第一相对位置关系用于指示在目标方向上所述目标极耳与所述标志物的相对距离，所述标志物贴附于所述目标极耳上；

第二测量单元，用于当确定形成所述卷绕电芯并将所述卷绕电芯压成方形时，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，所述第二相对位置关系用于指示在所述目标方向上所述极耳组与所述标志物的相对距离；

计算单元，用于基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

确定单元，用于当所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值时，则确定所述卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括至少一个处理器以及与所述至少一个处理器连接的存储器，所述至少一个处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行是实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。