[发明专利]功率测量方法、装置以及相关设备

说明书

本申请提供了一种功率测量方法，应用于光通信领域。功率测量方法包括：功率测量设备获取第一光信号在N个波长上的第一功率谱。N为大于1的整数。功率测量设备获取X个功率。X个功率和X个子光信号一一对应。每个子光信号为第一光信号中的一个或多个波长信号。每个子光信号包括不同的波长，X为大于0，且小于N的整数。功率测量设备根据X个功率对第一功率谱进行修正，得到目标功率谱。在本申请中，第一功率谱是不准确的功率谱。通过X个功率对不准确的功率谱进行修正，可以减少测量子光信号的次数，提高测量效率。

技术领域

本申请涉及光通信领域，尤其涉及功率测量方法、装置以及相关设备。

背景技术

波分复用(wavelength division multiplexing，WDM)技术可以在一根光纤中传输不同波长的光信号，从而提高通信带宽。

但是，在光传输路径中，不同波长的子光信号的功率变化可能是不同的。若不同波长的子光信号的功率差值过大，则会影响光信号的传输性能。因此，可以在光传输路径中设置一个或多个功率检测设备。功率检测设备用于测量待检测光信号在不同波长上的功率。具体地，功率检测设备包括光栅、微机电系统(micro electro mechanical system，MEMS)转镜和光电二极管(photo diode，PD)。光栅用于将包括N个波长的待检测光信号分为N个子光信号。N个子光信号和N个波长一一对应。N个子光信号传输至MEMS转镜。通过改变MEMS转镜的角度，功率检测设备可以将不同的子光信号传输至PD，得到待检测光信号在N个波长上的功率谱。

在实际应用中，对于包括N个波长的待检测光束，功率检测设备需要测量N个子光信号的功率。若N值过大，则功率检测设备的测量效率较低。

发明内容

本申请提供了一种功率测量方法，装置以及相关设备，通过X个功率对不准确的功率谱进行修正，可以减少测量子光信号的次数，提高测量效率。

本申请中第一方面提供了一种功率测量方法。功率测量方法可以应用于功率测量设备。功率测量方法包括以下步骤：功率测量设备获取第一光信号在N个波长上的第一功率谱。N为大于1的整数。功率测量设备可以从光束传输路径中的上一个功率测量设备或发送端得到第一功率谱。在上述两个示例中，功率测量设备与上一个功率测量设备、发送端之间存在光器件，例如光纤、光放大器等。经过光器件后，第一光信号的功率谱可能发生改变。因此，对于功率测量设备而言，第一功率谱是不准确的功率谱。第一光信号包括M个波长。M为大于或等于N的整数。功率测量设备获取X个功率。X个功率和X个子光信号一一对应。每个子光信号为第一光信号中的一个或多个波长信号。每个子光信号包括不同的波长。X为大于0，且小于N的整数。功率测量设备根据X个功率对第一功率谱进行修正，得到第一光信号在N个波长上的目标功率谱。

在本申请中，X小于N。例如N等于120时，X可以等于2或3。X的值即为功率测量设备测量子光信号的次数。因此，通过X个功率对不准确的功率谱进行修正，可以减少测量子光信号的次数，提高测量效率。

在第一方面的一种可选方式中，功率测量设备从波长选择开关(wavelengthselective switch，WSS)的测量端口接收X个子光信号。功率测量设备测量X个子光信号的X个功率。WSS包括输出端口和测量端口。WSS用于通过输出端口输出第一光信号。其中，发送端通过光传输路径向接收端发送第一光信号。WSS属于光传输路径中的光器件。WSS用于实现第一光信号的波长选择。WSS还用于得到X个子光信号。因此，本申请可以降低功率测量设备的成本。并且，功率测量设备可以通过WSS灵活调整X的值，和/或每个子光信号的波长数量。因此，本申请可以增加功率测量的灵活性。