[发明专利]绕射波成像方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种绕射波成像方法，其特征在于，包括：

获取待成像区域的倾角道集；

基于所述倾角道集确定目标成像点的振幅数据集；其中，所述目标成像点为所述待成像区域内所有成像点中的任一成像点；

结合预设双阶权函数和所述目标成像点的振幅数据集确定所述目标成像点的绕射波成像结果；其中，所述振幅数据集中的每个振幅数据包括：绕射波振幅和反射波振幅；绕射波振幅对应的预设双阶权函数值大于第一预设阈值，反射波振幅对应的预设双阶权函数值小于第二预设阈值，且所述第一预设阈值大于所述第二预设阈值；

基于所述待成像区域内所有成像点的所述绕射波成像结果确定所述待成像区域的综合绕射波成像结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，结合预设双阶权函数和所述目标成像点的振幅数据集确定所述目标成像点的绕射波成像结果，包括：

利用所述预设双阶权函数对所述振幅数据集进行处理，得到所述目标成像点的预设双阶权函数值数组；

基于所述目标成像点的振幅数据集和所述预设双阶权函数值数组确定所述目标成像点的绕射波成像结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述目标成像点的振幅数据集和所述预设双阶权函数值数组确定所述目标成像点的绕射波成像结果，包括：

利用算式确定目标成像点m₀的绕射波成像结果；其中，I(m₀)表示所述目标成像点m₀的绕射波成像结果，M表示目标成像点m₀对应的观测倾角总数，x_i表示所述目标成像点的振幅数据集X中的第i个振幅数据，w_d(x_i)表示第i个振幅数据x_i对应的预设双阶权函数值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取预设零阶权函数和预设一阶权函数；其中，所述预设零阶权函数表示为所述预设一阶权函数表示为其中，x_i表示所述目标成像点的振幅数据集中的第i个振幅数据，u表示所述振幅数据集的振幅数据均值，ε表示预设极小值，x_i′表示x_i的一阶导数，u'表示所述振幅数据集中振幅数据的一阶导数取绝对值后的均值，ω表示预设衰减阈值；

基于所述预设零阶权函数和所述预设一阶权函数构建所述预设双阶权函数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述预设双阶权函数表示为其中，w_d(x_i)表示第i个振幅数据x_i对应的预设双阶权函数值，s₁表示预设反射压制阈值，s₂表示预设绕射损伤阈值。

6.一种绕射波成像装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取待成像区域的倾角道集；

第一确定模块，用于基于所述倾角道集确定目标成像点的振幅数据集；其中，所述目标成像点为所述待成像区域内所有成像点中的任一成像点；

第二确定模块，用于结合预设双阶权函数和所述目标成像点的振幅数据集确定所述目标成像点的绕射波成像结果；其中，所述振幅数据集中的每个振幅数据包括：绕射波振幅和反射波振幅；绕射波振幅对应的预设双阶权函数值大于第一预设阈值，反射波振幅对应的预设双阶权函数值小于第二预设阈值，且所述第一预设阈值大于所述第二预设阈值；

第三确定模块，用于基于所述待成像区域内所有成像点的所述绕射波成像结果确定所述待成像区域的综合绕射波成像结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第二确定模块包括：

处理单元，用于利用所述预设双阶权函数对所述振幅数据集进行处理，得到所述目标成像点的预设双阶权函数值数组；

确定单元，用于基于所述目标成像点的振幅数据集和所述预设双阶权函数值数组确定所述目标成像点的绕射波成像结果。