[发明专利]一种复合AlN模板及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110878279.3 申请日: 2021-07-30
公开(公告)号: CN113410352B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 徐广源;蒋国文;樊怡翔;常煜鹏 申请(专利权)人: 山西中科潞安紫外光电科技有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/44;H01L33/00
代理公司: 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 代理人: 周新楣
地址: 047500 山西*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 复合 aln 模板 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种复合AlN模板,其包括衬底(1),其特征在于,所述衬底(1)的正面设有GaN层或AlxGa1-xN层(2)且所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)的直径小于所述衬底(1)的直径,所述AlxGa1-xN层为Al含量渐变的AlGaN层,其中,0%<x<99%,所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)上以及未被所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)覆盖的所述衬底(1)的正面上设有AlN层(3),所述衬底(1)的背面设有Si3N4或SiO2层(4);

所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)的厚度为5-20nm,所述AlN层(3)的厚度为10~1000nm,所述Si3N4或SiO2层(4)的厚度为10~200nm;

所述复合AlN模板的制备方法包括以下步骤:

(1)、在衬底(1)的正面生长GaN层或AlxGa1-xN层(2),所述AlxGa1-xN层为Al含量渐变的AlGaN层,其中,0%<x<99%;

(2)、刻蚀掉所述GaN或AlxGa1-xN层(2)的边缘部分以部分露出所述衬底(1)的正面;

(3)、在所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)上以及未被所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)覆盖的所述衬底(1)的正面上溅射AlN层(3);

(4)、在所述衬底(1)的背面沉积Si3N4或SiO2层(4);

(5)、整体做退火处理;

所述步骤(1)具体为:

将所述衬底(1)放到金属有机化学气相沉积设备中,在所述衬底(1)的正面上生长5~20nm厚的所述GaN层,具体生长工艺为:温度500~600℃,压力400~650torr,NH3流量为2L~10L/min,三甲基铝流量为30~150umol/min,生长时间为1.5~5min;或者

将所述衬底(1)放到金属有机化学气相沉积设备中,在所述衬底(1)的正面上生长5~20nm厚的所述AlxGa1-xN层,具体生长工艺为:温度1000~1080℃,压力50~150torr,NH3流量为1L~8L/min,在2~4min内,Ga源和Al源做如下线性变化:三甲基镓流量由100~200umol/min线性渐变为0umol/min,同时,三甲基铝流量由0线性渐变为110~220umol/min;

所述步骤(3)具体为:将步骤(2)刻蚀后的所述衬底(1)放到磁控溅射设备中,在所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)上以及未被所述GaN层或AlxGa1-xN层(2)覆盖的所述衬底(1)的正面上溅射10~1000nm厚的AlN层(3),具体溅射工艺为:功率1000~4000W,氮气80~200sccm,氧气0.1~2sccm,氩气0.1~40sccm,温度400~750℃,溅射时间为60s~800s;

所述步骤(4)具体为:将步骤(3)处理后的所述衬底(1)放入到等离子体增强化学气相淀积设备中,在所述衬底(1)的背面沉积10~200nm厚的Si3N4或SiO2层(4),其中,

沉积所述Si3N4层的具体工艺为:温度为200~300℃,压力为0.5~1torr,NH3流量为8~15sccm/min,SiH4和N2混合气体的流量为200~500sccm,且所述混合气体中SiH4占比为5%,N2占比为95%,沉积时间为2~30min;

沉积所述SiO2层的具体工艺为:温度为200~300℃,压力为0.5~1torr,SiH4和N2混合气体的流量为200~600sccm,且所述混合气体中SiH4占比为5%,N2占比为95%,N2O的流量为500~1500sccm,沉积时间为2~30min;

所述步骤(5)具体为:将步骤(4)处理后的所述衬底(1)放到高温退火炉中做退火处理,其中,退火温度为1500~1800℃,退火时间为0.2~3h,退火气氛为氮气,氮气流量为100~12000sccm,退火压力为200~650torr。

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