[发明专利]一次设备的缺陷评估方法和装置、存储介质

权利要求书

1.一种一次设备的缺陷评估方法，其特征在于，包括：

获取一次设备的初始缺陷数据；

对所述初始缺陷数据进行预处理，得到实际缺陷数据；

将所述实际缺陷数据输入至预设的缺陷评估模型进行评估，得到缺陷评估数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述初始缺陷数据进行预处理，得到实际缺陷数据，包括：

对所述初始缺陷数据进行去噪滤波处理；

对去噪滤波处理后的初始缺陷数据进行方差分析；

对进行方差分析后的缺陷数据进行剔除处理，去除非正常缺陷数据，得到实际缺陷数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述实际缺陷数据输入至预设的缺陷评估模型进行评估，得到缺陷评估数据，包括：

将所述实际缺陷数据输入至所述缺陷评估模型；

通过缺所述陷评估模型的综合评价算法对所述实际缺陷数据进行曲线拟合，得到变化趋势数据；

根据所述变化趋势数据进行评估，得到所述缺陷评估数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述缺陷评估数据还包括缺陷等级，所述将所述实际缺陷数据输入至预设的缺陷评估模型进行评估，得到缺陷评估数据，还包括：

对实际缺陷数据进行阈值分析，得到所述缺陷等级。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：训练缺陷评估模型，具体包括：

获取缺陷样本集；

将所述缺陷样本集输入至初始评估模型进行训练直至初始评估模型收敛，得到所述缺陷评估模型。

6.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述缺陷评估数据进行可视化展示。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述缺陷评估数据进行可视化展示，包括：

对所述缺陷评估数据进行初步处理；

对初步处理后的缺陷评估数据进行二次处理；

对进行二次处理后的缺陷评估数据进行三维可视化展示。

8.一种一次设备的缺陷评估装置，其特征在于，包括：

缺陷数据获取模块，用于获取一次设备的初始缺陷数据；

预处理模块，用于对所述初始缺陷数据进行预处理，得到实际缺陷数据；

缺陷评估模块，用于将所述实际缺陷数据输入至预设的缺陷评估模型进行评估，得到缺陷评估数据。

9.一种一次设备的缺陷评估装置，其特征在于，包括：

至少一个存储器；

至少一个处理器；

至少一个程序；

所述程序被存储在所述存储器中，所述处理器执行所述至少一个程序以实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行：

如权利要求1至7任一项所述的方法。